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基于MCU的事件发生时刻测量范围的扩展方法及装置.pdfVIP

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  • 2023-06-03 发布于四川
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基于MCU的事件发生时刻测量范围的扩展方法及装置.pdf

    本申请公开一种基于MCU的事件发生时刻测量范围的扩展方法及装置，其扩展方法包括：当捕获到事件发生时，将当前MCU的定时器的计数值作为事件发生时刻的低字，并根据MCU的定时器是否溢出推算得到事件发生时刻的高字，事件发生时刻的高字和事件发生时刻的低字共同组合成事件的发生时刻。本申请对事件发生时刻的测量范围的扩展具有低成本、高性能的优点。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112650119 A (43)申请公布日 2021.04.13 (21)申请号 202011527708.4 (22)申请日 2020.12.22 (71)申请人 深圳市禾望电气股份有限公司

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