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用于评估半导体电路的老化效应的差分老化监测电路和技术.pdfVIP

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  • 2023-06-04 发布于四川
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用于评估半导体电路的老化效应的差分老化监测电路和技术.pdf

    本公开涉及一种用于评估半导体电路的老化效应的差分老化监测电路和技术。在一些示例中，本公开描述了一种操作电路的方法。该方法可以包括：在正常操作条件下执行电路功能，其中在正常操作条件下执行电路功能包括：经由特征电路执行电路功能的至少一部分，经由特征电路副本在增强的应力条件下执行电路功能的至少该部分，以及基于特征电路的操作相对于特征电路副本的操作的评估，预测电路功能在正常条件下的潜在未来问题。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116203368 A (43)申请公布日 2023.06.02 (21)申请号 202211485782.3 (22)申请日 2022.11.24 (30)优先权数据

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