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制造半导体器件的方法包括在衬底上方形成在第一方向上交替堆叠的第一半导体层和第二半导体层的堆叠结构。所形成的第一半导体层的厚度在第一方向上进一步远离衬底间隔开的每个第一半导体层中增大。将堆叠结构图案化为沿基本垂直于第一方向的第二方向延伸的鳍结构。去除相邻的第二半导体层之间的第一半导体层的部分,并且栅极结构形成为在第三方向上在第一半导体层的第一部分上方延伸,使得栅极结构包裹第一半导体层。第三方向基本垂直于第一方向和第二方向。在第一半导体层的第一部分处的第一半导体层中的每个具有基本相同的厚度。本发明的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113140511 A
(43)申请公布日 2021.07.20
(21)申请号 202110053759.6
(22)申请日 2021.01.15
(30)优先权数据
16/746,12
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