一种系统测试缺陷分类方法、装置、设备及存储介质.pdfVIP

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2023-07-04 发布于四川
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一种系统测试缺陷分类方法、装置、设备及存储介质.pdf

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本发明实施例公开了一种系统测试缺陷分类方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：如果在对被测试系统进行测试时接收到缺陷描述信息，则获取被测试系统的测试业务日志和被测试系统所在的系统链路，并根据测试业务日志从位于系统链路上的各候选缺陷系统中确定目标缺陷系统；获取缺陷分类信息和已训练完成的缺陷分类模型，其中缺陷分类信息包括缺陷描述信息、系统链路的链路信息和目标缺陷系统的目标业务日志中的目标错误信息；将缺陷分类信息输入到缺陷分类模型中，根据缺陷分类模型的输出结果，得到目标缺陷系统的缺陷类型。本发明实施例

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113778875 A (43)申请公布日 2021.12.10 (21)申请号 202111055989.2 (22)申请日 2021.09.09 (71)申请人上海浦东发展银行股份有限公司