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- 2023-07-05 发布于四川
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本发明公开了一种芯片自动测试机，包括：测试机台，所述测试机台上阵列设置有若干测试机构，所述测试机构包括测试工装、测试加热组件、测试移动组件；上下料机构，所述上下料机构设置于测试机台的侧边，用于放置测试芯片的料盘；扫码旋转机构，所述扫码旋转机构包括扫码组件、旋转组件；芯片移载机构，所述芯片移载机构设置于各个机构上方位置，用于在各个机构间取放测试芯片。本发明提高了整体稳定性，不仅定位精准，而且能够大大提高测试效率，支持多组芯片同时上料、下料、测试的优点。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116381447 A
(43)申请公布日 2023.07.04
(21)申请号 202211674329.7
(22)申请日 2022.12.26
(71)申请人 苏州乾鸣半导体设备有限公司
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