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大型电力系统开入量回路的安全性分析 开入量电路是微型计算机保护的重要组成部分。 在开入量回路设计中, 微机保护大量使用了光耦回路。光耦的使用, 解决了抗干扰、读取速度等问题, 但是在工程的实际应用中, 从光耦器件选择、光耦回路设计、外部接点的引入到光耦电源使用等各个环节上, 都有一些值得注意之处。 1 光催化机械的应用 光耦回路动作电压偏低, 动作功率偏小, 已造成多次保护异常或误动。如, 2004年1月, 某220 k V变电站值班员在投入远跳压板前, 测量压板两端对地电位时, 线路对侧保护发三跳令。检查发现:电压表内阻远小于光耦输入阻抗, 且该光耦动作电压偏低, 仅为80 V (直流电压为220 V) , 电压表内阻和光隔构成的串联电路两端有约110 V电压, 几乎全被光隔分压, 启动了远跳 经实测, 上述光耦电路的导通电压约为47 V, 而用万用表欧姆档测试电位时, K 光耦回路动作电压的选择, 类似于接口中间继电器动作电压的选择, 既要保证电压波动的允许范围内可靠动作, 又必须考虑尽量防止直流接地等异常时光耦不误动。因此, 也应该控制在直流电压的55%~70%。 同时, 为了提高安全性, 对于断路器失灵启动母差、保护远跳等可能直接跳闸的重要回路, 应该采用双开入接口, “与”后出口。在上文提到的2005年4月失灵误动事故中, 虽然失灵开入在保护装置上设计为双开入, 但在外部回路上这2个开入并联, 从每个断路器失灵保护屏只接入了一根电缆, 这种做法没有完全起到“与”的意义, 需要在工程中予以特别注意。 然而将光耦动作电压提高, 并采用双开入接口还是不能完全解决问题。 2006年6月, 某500 k V变电站2条母线的2套微机母线保护中的失灵直跳功能误出口, 500 k V的2条母线停电。虽然该光耦开入量的动作电压满足反措要求, 实测为直流电压的60%~65%, 也采用了双光耦“与”逻辑, 但回路的反向截止作用 (如图2所示) 导致光耦开入的正端对地电位不是-110 V, 而在-20 V~0之间, 在直流正极一点接地时, 约220 V电压加在光耦两端, 在长电缆电容效应下 (该站采用多继电保护小室设计, 失灵出口通过长电缆接入母差中的直跳功能) , 光耦导通时间达到了开入量的确认延时10 ms, 失灵误动。 为提高安全性, 该保护已经采取了很多技术措施, 2个失灵功能开入量采用了不同的回路设计:一路开入量经220 V光耦直接接入装置, 另一路开入量经220 V/24 V两级光耦转换后接入装置, 2个开入量经逻辑“与”后, 再延时10 ms (抗干扰, 防抖动) 出口跳闸。若光耦开入量正端对地电压为-110V (正常情况) , 则发生直流正端接地的瞬间, 在光耦两端产生的电压差只能达到110V (额定直流电压的50%) , 不会造成光耦开入量的导通, 且随着电压差的指数衰减, 光耦开入量更不会动作。光耦回路的设计缺陷是导致保护误动的根本原因。 这样的设计缺陷是可以避免的, 但解决了这个问题也未必能保证光耦回路的安全, 如果发生直流负极接地后, 回路中的某接点闭合, 随即形成直流正极接地, 则仍是220 V的直流电压加在光耦两端, 电位钳制只能解决单纯的接地问题, 而不能解决接地转换问题。 因此, 需要从各个方面入手解决保护的开入回路问题。 2 问题解决 微机保护的光耦开入回路, 在内外部各个环节上均应采取一定的安全可靠措施。 2.1 采样不一致的原因 如某保护运行中多次出现光耦开入异常情况, 异常现象均为某一光耦开入信号出现反复变位, 且CPU与MONI对该开入的采样不一致。经认真分析查找, 其原因为光耦HPC962B与74LS245的电平配合不够严密, 常温下无异常, 在温度变化时性能下降, 导致两者的电平失配, 光耦开入异常。 除上文提到的对光耦回路采取的措施外, 还可考虑将两组开入接点分别接在开入光耦的两端, 提高其抗干扰性能, 使光耦正常与直流系统正、负极隔离, 正常情况下光耦两端不带任何电位 2.2 用中间继电器来使开关误跳 对直接跳闸的开入回路, 重动继电器要选择动作功率大、动作时间长的中间继电器 对新设计的保护装置, 可考虑直接在装置内部采用继电器接收开入量。 同时需要指出的是, 这种对中间继电器的要求, 也同样适用于操作箱中的跳闸继电器, 如果存在误动的可能, 操作箱中的跳闸继电器也应改进。毕竟, 因交流混入直流系统导致的全厂停电事故已不止一起, 有些就是直接作用在操作箱跳闸继电器上使开关误跳的。在目前的技术条件下, 随着大量交直流混合供电或互为备用供电的电子设备的增多, 虽然从管理上可要求注意交流与直流的隔离, 但难免一时疏忽。 2.3 电源设置的限制 开入使用的强电电源几乎均直接采用变电站直流电源, 而