光探测器噪声.pptVIP

第一页，共二十一页，2022年，8月28日 一、定义： 光电探测器在光电转换时，要受 到无用信号的干扰，称为光电探测 器的噪声。 噪声概念 探 测 器 放 大 器 示波器 (a) (b) (c) 光 第二页，共二十一页，2022年，8月28日 二、噪声的度量： 噪声实质上就是某个物理量围绕其 平均值的涨落现象。研究噪声一般采 用长周期测定其均方值(即噪声功率) 的方法。 第三页，共二十一页，2022年，8月28日 我们一般采用先计算噪声电压(电流) 的平方值，然后将其对时间作平均，来 求噪声电压(电流)的均方值。 噪声功率谱N（f）： 表示噪声功率随 频率的变化关系。 白噪声 1/f噪声 第四页，共二十一页，2022年，8月28日 三、按照噪声的产生，可分为： 第五页，共二十一页，2022年，8月28日 光探测器中的噪声 依据噪声产生的物理原因，光电探 测器的噪声主要为散粒噪声、1/f噪声、 产生—复合噪声、热噪声和温度噪声。 第六页，共二十一页，2022年，8月28日 在光电转换过程中，半导体中的 电子从价带跃迁到导带，或者电子逸出 材料表面等过程，都是一系列独立事件， 是一种随机的过程。每一瞬间出现多少 载流子是不确定的，所以随机的起伏将 不可避免地与信号同时出现。尤其在信号 较弱时，光电探测器的噪声会显著地影响 信号探测的准确性。 第七页，共二十一页，2022年，8月28日 热噪声 一、产生原因： 由于载流子的热运动而引起的电流或 电压的随机起伏。 这种噪声存在于任何半导体和导体中。 二、度量： 第八页，共二十一页，2022年，8月28日 三、特点： 热噪声起源于热平衡条件下电子的粒 子性，因而依赖于kT。 热噪声属于白噪声。 降低温度和通带，可以减少噪声功率。 第九页，共二十一页，2022年，8月28日 散粒噪声 一、产生原因： 探测器的散粒噪声是由于探测器在光 辐射作用或热激发下，光电子或光生载 流子的随机产生所造成的。由于随机起 伏是一个一个的带电粒子或电子引起的， 所以称为散粒噪声。 这种噪声存在于所有光电探测器中。 第十页，共二十一页，2022年，8月28日 二、度量： 式中q为电子电荷，I为器件输出的平均 电流。 三、特点： 散粒噪声直接起源于电子的粒子性， 因而与e直接有关。 散粒噪声也是白噪声，与频率无关。 第十一页，共二十一页，2022年，8月28日 产生－复合噪声 一、产生原因： 半导体中由于载流子产生与复合的 随机性而引起的平均载流子浓度的起伏所产生的噪声称为产生—复合噪声。 产生—复合噪声主要存在于光电导 探测器中。 第十二页，共二十一页，2022年，8月28日 二、度量： 式中I为总的平均电流，N0为自由载流 子数，f为测量噪声的频率。 第十三页，共二十一页，2022年，8月28日 1/f噪声 一、产生原因： 这种噪声是由于光敏层的微粒不均匀 或不必要的微量杂质的存在，当电流流 过时在微粒间发生微火花放电而引起的 微电爆脉冲。 几乎在所有探测器中都存在这种噪声。 它主要出现在大约1KHz以下的低频频域， 而且与光辐射的调制频率f成反比，故称 为低频噪声或1/f 噪声。 第十四页，共二十一页，2022年，8月28日 实验发现，探测器表面的工艺状态 (缺陷或不均匀等)对这种噪声的影响很大， 这种噪声的功率谱近似与频率成反比。 二、度量：