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镀层表面晶花品质数据确定方法、装置、电子设备及介质.pdfVIP

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  • 2023-08-05 发布于四川
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镀层表面晶花品质数据确定方法、装置、电子设备及介质.pdf

    本发明提出的一种镀层表面晶花品质数据确定方法、装置、电子设备及介质，该方法通过将多张在不同光照状态下采集的镀层表面的初始表面图像进行融合，对得到的融合图像进行识别，得到该镀层表面的晶花和每一晶花的初始晶花大小，进而确定晶花均匀程度和晶花表征尺寸，基于晶花数量、晶花均匀程度和晶花表征尺寸中至少之一生成晶花品质数据；上述方式提供了一种自动化的晶花品质数据确定方式，不需要人工进行计数，降低了人工劳动强度，提升了晶花品质数据确定的准确度，确定速度快，成本低，能够满足连续生产线大规模工业化生产的需要。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116542959 A (43)申请公布日 2023.08.04 (21)申请号 202310640493.4 (22)申请日 2023.06.01 (71)申请人 上海研视信息科技有限公司 地址

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