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为什么要研究 《双 ⽬结构光》？ 双 ⽬结构光的研究背景与意义 为了贯彻 “中国制造 202 ”提出的 “质量为先”指导⽅针，越来越多的制造型企业希望通过引进先进的⼯业三维测量技术和⼿段实现产品 的全尺⼨在线精确测量，完成精细化、智能化、数字化的管理。⽬前在制造业中采⽤的三维重建和三维测量⽅法较多，主要可以分为接触式 测量和⾮接触测量。传统测量⽅法⼤多为接触式测量，如三坐标测量机。三坐标测量机在机械、电⼦、仪表等⾏业被⼴泛使⽤，其具有重复 性好、测量精度⾼等优点。但三坐标测量机测量需要根据不同被测物适配不同的测量头，并且设备昂贵且测量效率相对较低。⾮接触式测量 ⽅法主要分为被动测量法和主动测量法，被动测量主要是⽴体视觉法，⽽主动测量⽅法包括结构光法、飞⾏时间法等。⾮接触式测量⽅法中 能够满⾜⼯业测量精度要求主要为结构光法，其具有测量速度快、精度⾼等优点，并且在三维测量领域中具有⼴阔前景。 国外像美、德、⽇等发达国家的机器视觉公司垄断了三维视觉测量的核⼼技术，形成了完备的产业链和布局，三维视觉测量产品的精度、效 率、稳定性都处于世界领先⽔平，可以满⾜⼯业产品⾼速、⾼精度测量的要求。国内对三维视觉测量技术的研究相对滞后，⼤多停留在实验 室⽔平，难以满⾜⼯业现场测量的需求，在许多⾼端应⽤领域仍然依赖价格昂贵的进⼝设备。因此对结构光三维重建技术进⾏性能优化、提 ⾼重建精度具有重要研究意义。 结构光三维重建技术主要通过数字投影仪或光栅衍射器等设备，向被测物体主动投射具有⼀定编码信息的图案，通过相机采集图像，再根据 三⾓测量原理恢复出被测物体的三维形貌。基于结构光的三维测量系统有单 ⽬和双 ⽬两种。单 ⽬测量系统中包含了⼀个相机和⼀个投影仪， 在使⽤时⾸先需要对投影仪进⾏标定，该过程⼗分复杂，对系统环境和成像质量要求⾼，且⾮常容易受到环境中其它因素的⼲扰，边缘提取 的成功率和三维重建的精度都不⾼，数字投影仪标定⽅法⼤多采⽤逆相机原理标定，其标定精度依赖于系统中相机的标定精度，因此投影仪 的标定精度⼀般低于相机的标定精度。同时投影仪的光学元器件的质量也低于⼯业相机的质量。如果三维重建过程中可以避免使⽤投影仪的 标定参数，那么三维重建的精度将进⼀步提升。双 ⽬结构光测量系统包含了两个相机和⼀个投影仪，该测量⽅法是传统的双 ⽬视觉测量技术 的改进和延伸，它既有双 ⽬视觉测量⽅⾯的理论基础，可以省去对投影仪复杂的标定，⼜有结构光来增加物体表⾯的⼏何特征信息，能够避 免双 ⽬⽴体视觉中对弱纹理或重复纹理区域匹配困难的问题，从⽽较传统的双 ⽬视觉测量⽅法有更⾼的测量精度。 对结构光和双 ⽬视觉相结合的三维测量系统进⾏研究，不仅可以提⾼⾃动化⾏业的测量效率，逐步取代传统测量设备，还可以促进⽣物医 学、⼯业制造、逆向⼯程、产品检验、⽂物保护等领域的发展，因此对结构光三维测量系统进⾏研究具有⼴阔的应⽤前景和深远的研究意 义。 国内外研究现状 结构光三维测量是⼀种主动式三维测量技术，其特点是采⽤主动光源，如点光源、线光源和⾯光源等投射到待测物体表⾯，然后由采集得到 图像计算出物体的三维数据。对于⾯光源的结构光，其投射光源具有⼀定编码的⼆维图案，数据采集通常由相机完成，所以⾯结构光测量过 程中获取数据速度⽐其它⽅式更快，使得计算效率⼤⼤提⾼，因此得到了⼴泛应⽤。结构光的测量⽅式多种多样，Salvi 和Pages 等依据投 影编码图案对结构光进⾏分类，主要包括 ：基于时间编码、基于空间邻域编码、直接编码三⼤类。 时间编码是将投影图像按⼀定的先后顺序编码，然后向被测物体投影多幅序列图案，再完成所有投影图案采集之前，投影仪、相机及被测物 体都需要保持相对静态。时间编码中条纹光栅⼤多采⽤格雷编码和相位测量轮廓术，189 1 年，Posdamer 等⼈⾸次提出⼆值编码，将 m 幅图案中每幅⽣成2m个⼆值条纹，分别对应⼆进制编码 0 和 1，最后产⽣⼀张投影图⽚使得每个条纹包含对应的⼆进制序列。Inokuchi 等 之后⼜利⽤格雷码改进了之前的编码⽅式，格雷编码属于⼀种⼆值编码⽅法，由于格雷码的相邻码之间只存在⼀位字码差异，所以其误码率 相对较低，但格雷码条纹解码误差会随着条纹光栅宽度的减⼩⽽增⼤，因此需要保证条纹宽度⼤于相机采集图像的⼀个像素宽度，进⽽测量 的分辨率将受到影响。Furukawa 等⼜通过投影横纵复合格雷码实现点与点之间的对应，提⾼了分辨率，之后研究主要围绕减⼩解码误差和 提⾼采样密度两个⽅⾯。相移法中相位测量轮廓术应⽤⼴泛，其实现过程是通过相移⼲涉原理，将相位信息包裹在⼀系列不同频率和相位差 的正弦光栅图案中。然后采集由深度变化⽽