- 30
- 0
- 约2.45万字
- 约 29页
- 2023-08-13 发布于湖北
- 举报
[在此处键入]
16 -
摘要
在低温真空状态下,利用CVD设备,在管式炉中放入摩尔比为1:2的ZnO和C粉原料。在实验之前,我们必须将仪器的管式炉抽成真空状态,还要让内部真空的压强和大气压的压强是一样大。再在真空管式炉中通入N2气,用Si片作为衬底,在其上面开始镀薄膜。镀完薄膜的时候,夹取硅片要格外小心,不要用手拿,以免给后续的XRD曲线图的测量带来麻烦。在此次实验中,用到的是控制变量法。总共分为两组,第一组是改变蒸发源的温度,结合AFM图像和XRD图像观察所镀到ZnO的表平整度和晶体结构的质量。
当在实验的时候,随着蒸发源温度的升高,在一定的温度范围内,薄膜晶体的结构和表面平整度越来越好
原创力文档

文档评论(0)