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残余应力测量方法的研究 0 残余应力的测量 各种机械技术，如铸造、切割、焊接、处理程序和装配，使工艺中的残余力不同程度。残余应力产生的原因,可分为外部作用的外在原因和来源于物体内部组织结构不均匀的内在原因。残余应力的存在,一方面工件会降低强度,使工件在制造时产生变形和开裂等工艺缺陷;另一方面又会在制造后的自然释放过程中使工件的尺寸发生变化或者使其疲劳强度、应力腐蚀等力学性能降低。因此,残余应力的测量,对于确保工件的安全性和可靠性有着非常重要的意义。本文结合实际应用综合阐述了目前对残余应力测量比较常用的一些方法,并介绍了当前国内外新型的一些残余应力测量方法,在此基础上对残余应力测量的发展趋势进行了分析。 1 残余应力的测量 目前传统残余应力的测量方法主要分为两大类。(1)机械法。有取条法、切槽法、剥层法、钻孔法等。机械法测量残余应力需释放应力,这就需要对工件局部分离或者分割,从而会对工件造成一定的损伤或者破坏,但机械法理论完善,技术成熟,目前在现场测试中广泛应用,其中尤以浅盲孔法的破坏性最小。(2)物理检测法。主要有X射线法、超声法和磁性法。这些方法均属无损检测法,对工件不会造成破坏。 1.1 应变释放系数和残余应力 假定物体表面存在残余应力,此应力处于平面应力状态,在该平面某点上钻一个小孔,孔边的径向应力下降为0,孔区附近应力重新分布。若在钻孔之前,在该点贴上三向应变计,如图1所示,钻孔之后,应变计便感受到应力释放产生的应变,通过测量应变计的应变,并进行相应的计算,便可求得该点的2个主应力σ1、σ2和1个主方向角θ,计算公式为 式中:ε1,ε2,ε1分别为由应变计测得到的应变;A,B为释放系数;θ为残余主应力σ1方向与应变计1轴向的夹角。 由于该方法易于现场操作、工件创伤面积小、精度较高以及设备较便宜,因此在工程上测量表面残余应力常采用此法。郑州机械研究所生产的ZDL-Ⅱ型小孔法测量装置是目前国内市场上较成熟的产品。 钻孔法测量残余应力也可以采用光弹覆膜法。严格地说,光弹覆膜法属于一种光学方法,它是应用光学中的偏光性进行应力测定的,覆膜材料采用酚醛系或醇酸系树脂。光弹法测量残余应力,应变测定范围大,测定精度高。 1.2 辐射育种方法 1.2.1 残余应力的计算 X射线衍射法检测残余应力的依据是根据弹性力学及X射线晶体学理论。对于理想的多晶体,在无应力的状态下,不同方位的同族晶面间距是相等的,而当受到一定的表面残余应力σ时,不同晶粒的同族晶面间距随晶面方位及应力的大小发生有规律的变化,从而使X射线衍射谱线发生位偏移,根据位偏移的大小可以计算出残余应力(如图2所示),式(3)是X射线衍射法计算残余应力的基本公式 σ=?E2(1+ν)σ=-E2(1+ν)·π180π180·cotθ0·?2θφ?sin2φ(2)?2θφ?sin2φ(2) 式中:σ为表面残余应力;E为弹性模量;ν为泊松比;θ0为所选晶面在无应力情况下的衍射角;φ为试样表面法线与所选晶面法线的夹角;2θφ为样品表面法线与衍射晶面法线为φ时的衍射角。 图2中,φ0为入射线与表面法线间的夹角;η为入射线(衍射线)与晶面法线的夹角。 采用X射线衍射法测量残余应力准确、可靠,特别当应力在小范围内急剧变化时最有效。此方法可测量出绝对残余应力,还分别测算出轴向、切向和径向上的残余应力,是确定陶瓷残余应力及弯曲面和球面最常用的方法。 X射线衍射法需要价格昂贵的X射线衍射仪。目前国内外厂商生产的X射线衍射仪的产品很多,如芬兰Stresstech公司生产的STRESS3000便携式X射线应力分析仪。 1.2.2 x-ct衍射 中子射线衍射法以中子流为入射束,照射试样,当晶面符合布拉格条件时,产生衍射,得到衍射峰并通过研究衍射束的峰值位置和强度,可获得应力或应变及结构的数据。该方法的原理与普通X射线衍射方法类似。主要差别在于X射线是由电子壳层散射的,而中子射线是由原子核散射的,中子的穿透深度比X射线大得多,对于钢可达50mm,可以用来测量钢的焊接结构沿层深的残余应力。为了获取高分辨率,需要高强度中子束,因此,只有反应堆或中子加速度器才能满足要求。 1.3 磁法 1.3.1 应力状态的测量 磁应变法测量残余应力是利用铁磁性物体的磁致伸缩效应。对普通结构钢来说,在无应力作用时,可认为是磁各向同性体,当发生弹性变形时,则产生磁各向异性,即各个方向的磁导率将发生变化。磁应力法就是通过测定磁导率的变化来反映应力的变化,磁导率的变化通过传感器反映为磁路的阻抗变化。 磁应变法用磁测仪测量残余应力。目前市场上较成熟的有邯郸爱华机械电子厂生产的CCYL型磁测仪。其基本原理是通过传感器和一定电路将磁导率的变化转变为电流量的变化,建立应力和电流量的函数关系,通过电流量的测量来确定应力,对于平面应力状态,主应力