绝缘子沿面放电多光谱脉冲演化特性及诊断方法.pdfVIP

2023 年 2 月 电 工 技 术 学 报 Vol.38 No. 3 第 38 卷第 3 期 TRANSACTIONS OF CHINA ELECTROTECHNICAL SOCIETY Feb. 2023 DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.211357 绝缘子沿面放电多光谱脉冲演化特性及 诊断方法 任 明 夏昌杰 余家赫 李信哲 董 明 （电力设备电气绝缘国家重点实验室（西安交通大学） 西安 710049 ） 摘要 绝缘子或套管处产生的沿面放电是导致开关柜、环网柜绝缘失效的常见诱因，而传统 局部放电在线检测和诊断方法难以准确评估放电发展阶段和危害程度。该文采用单光子固态光电 传感技术，对绝缘子沿面放电发展过程中的多光谱脉冲特性及其演化规律进行了试验研究，并提 出一种基于多光谱脉冲演化特性的沿面放电严重程度诊断方法。首先，搭建多光谱光电同步检测 平台，实现了沿面放电过程中多个光谱波段光信号和电流信号的同步采集；然后，根据全波段光 脉冲幅值及其导数变化规律对沿面放电发展过程进行了三阶段划分，并分别对沿面放电三阶段多 光谱脉冲的相位统计和非相位统计特征进行分析，明确了特征量随放电发展阶段的演化规律；最 后，基于深度神经网络算法建立沿面放电多光谱严重程度评估模型，结果显示该模型诊断准确率 达到96.75% ，验证了多光谱诊断方法的可靠性。 关键词：沿面放电 光测法 多光谱诊断 深度神经网络 严重程度评估模型 中图分类号：TM85 0 引言 子释放产生于场致发射、热发射、原子激发、电离及 复合等各个微观过程，发射光谱携带了关于放电更 绝缘子和套管是开关设备中的绝缘薄弱环节， 为丰富和本征的信息[9-11] ，因此光谱学诊断也被认为 而沿面放电是引起绝缘闪络和失效的重要诱因，因 是研究放电基础特性的有效方法。然而，由于局部放 此，沿面放电的有效监测和跟踪预警对保障设备安 全运行具有重要意义[1-3] 。目前，脉冲电流法、超高 电光脉冲幅值弱，无论是光脉冲测量或是光谱诊断， 均需要借助单光子级光电器件才能实现，而传统单 频法、暂态地电压法及超声法等是开关柜中常用的 局部放电监测方法[4-5] ，然而上述方法在实际应用过 光子器件多以真空外场效应为原理，驱动电压高、器 件尺寸大、工作寿命短，无法用于实际电力设备。 程中面临着现场干扰源复杂、检测置信度低等挑战。 随着硅光电半导体技术的快速发展，灵敏度高、 而对于放电过程较为剧烈的电弧放电，弧光保护主 尺寸小、寿命长的固态硅光电倍增器件越来越多地 要是以燃弧时产生的弧光阈值和电流阈值作为双判 应用于弱光探测领域，这不但使局部放电光测法趋 据进行高灵敏监测，然而其难以对放电较为微弱的 局部放电做出响应[6] 。除了上述监测方法外，光测 向实用化，还能够将光谱诊断这一实验室技术应用 于实际电力设备，实现高精准的放电故障诊断和预 法是一种抗干扰性强、检测置信度高的局部放电检 [7-8] 警。本文前期研究中，对固态硅光电倍增器件在局部 测方法，最早被用于局部放电的实验室研究中 。