一种多晶体超声探头的设计与分析.docxVIP

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一种多晶体超声探头的设计与分析 采用传统超声检测法进行确认,通常会出现误差和误差。为解决该类问题,对该结构件的超声探伤方法进行了研究。由于该部件的内部结构、机械加工及探头接触面为弧状等因素,加大了对超声探头技术性能的要求。为减少探头入射声束在工件中的变化,集中声束的指向性,提高该部件超声探伤的质量,研制了一种多晶片超声探头,以提高该部件超声探伤的可靠性。 1 多晶超声检测的背景 1.1 活塞杆探伤区局部剖面图 前起落架缓冲支柱活塞杆结构见图1所示,材料30CrMnSiA钢,探伤部位是内壁焊缝,活塞杆下根部至145 mm处。 图2是前起落架缓冲支柱活塞杆探伤区的局部纵向剖面图(按五倍放大),C2处是裂纹区,各相关尺寸是从解剖件上测绘出来的。活塞杆内筒直径为50 mm,外表面镀铬。 1.2 探伤面为曲面的条件 根据上述结构和裂纹部位等情况,选用便携式超声波探伤仪和常规横波探头,在对该部件的探伤中,常有误判或漏检的情况发生。为避免发生该类问题,提高该部件超声探伤的可靠性,对采用的超声探伤方法进行了分析研究。 在该部件的探伤试验中,考虑到探伤面为曲面,为使探头和探伤面接触稳定,保持一定的接触状态,将探头与探伤面接触的楔块表面加工成相吻合的曲面。此状态虽能保持探头在探伤面上平稳移动,并能以一定的入射角入射到被检部件中,但对于管径较小的被检部件,即使在超声波束范围内,入射角也随着位置而发生变化,因而有时在管内发生妨碍探伤的振动。该振动是影响探伤结果,造成误判或漏检的主要原因。 根据上述分析,在该类部件的探伤中,使探头在小管径探伤面上移动时保持入射角不随位置发生变化,是解决上述问题,提高探伤质量的主要方法。由此研制了如图3所示的多晶超声探头,该探头采用几个长方形晶片并列在斜楔上,使其在接触块内产生的超声波束在探伤面上的入射角保持一定,避免在探头移动中入射角随位置的变化影响探伤结果的可靠性。 2 多晶超声检测的设计 2.1 超声探伤件声束的变化 根据该部件探伤区的内部结构,该探头的设计要点为,① 由于部件外径为? 50 mm,壁厚3.3 mm,壁厚与外径之比为0.066。根据管材探伤的特点,壁厚与外径比0.20时,可在管中采用横波进行探伤。从外表面扫查内表面C2处垂直于管径的径向裂纹,横波从O点入射后除裂纹能反射外,要求R右边的弧形面不产生回波。② 埋深较浅的裂纹需增大检出能力。 对于管径在50 mm以下的圆筒状零件,一是由于管材表面弯曲,探头接触耦合不佳;二是由于声束在管壁内的能量扩散严重;三是探头在小管径上移动时入射角随位置的变化发生妨碍探伤的振动,影响探伤结果。为此,设计多晶体超声探头的目的是增强超声反射能量,以减小由于小口径管具有较大曲率而引起的声能扩散。更重要的是可保证探头入射角在超声波束范围内不随位置发生变化。 对垂直于管径的径向缺陷(图2),采用声波波束与管轴在同一平面的斜入射方式。对于这种管径较小的探伤件,声能扩散也较为严重。再者,声波在管壁中传播不象在板中传播那样有固定的底面入射角,管子中的折射声束对内表面的入射角是随壁厚的改变而改变的,当壁厚和管径之比增大到某一定值后,折射声束不再与管内壁相遇。所以,对已知管材的探伤,首先应选择好管中的折射角。 2.2 接头折射角和入射角的确定 在探头的结构确定后,应首先选择探头入射角α。 图2中O为声入射点,探伤区壁厚3.3 mm,非裂纹区壁厚6 mm,中间隔断宽度5.2 mm。 由于tg∠RC2C1=RC1C2C1=2.714=0.193∠RC2C1=RC1C2C1=2.714=0.193,所以∠RC2C1=10.92°。那么中间隔断层弧面不产生回波,要求的横波探头折射角β=90°-10.92°=79.08°。 选用角架为有机玻璃,对高强度钢的部件材料,由折射角β得出入射角α=56°。并选择晶片尺寸为8 mm×6 mm,频率为2.5 MHz。 探头总体结构采用密封式。探头内部反射杂波由钨粉和环氧树脂组成的吸收块将其吸收掉,同时对晶体谐振起阻尼作用。该探头的关键在角架设计。除保证入射角α的设计要求外,还要有合理的构形,使三个晶体的入射声程相等,在角架内的反射波声程也尽量接近,并便于消失。图3是楔块的构形立体图。 3 参数 3.1 近场极限距离 横波声场计算目前尚不成熟,现根据某些文献,估算近场极限距离XOA。 引入晶片的实际测量尺寸2g=2acosβcosα2g=2acosβcosα、晶片的视在位置L2=L1tanαtanβL2=L1tanαtanβ(式中2a为晶片尺寸,L1为晶片中心至入射点距离),得近场极限距离为 XOA=X0?[L2]VsVltanαtanβ(1)XΟA=X0-[L2]VsVltanαtanβ(1) 式中X0——中心轴的声压最后峰值距晶片面距离; [L2] ——实

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