ICT测试原理完整版.ppt

ICT測試原理及程式簡介EPDVIII ICTRandy .xiang 一.ICT的功能 ICT也叫在線測試儀，是一台靜態元件測試儀，它能准確，高速地測量PCB上已裝元件的不良問題，包括元件的漏件，錯件，裝反，空焊，來料不良，PCB上金道之間的開短路等。可測元件包括：電阻，電容，二極管，三極管，電感，變壓器，IC等絕大多數電子元件。 二. ICT的硬件結構 ICT包括ICT系統主機，電腦系統，壓床，測試治具。其中ICT系統主機包括：電源部分，量測控制板，I/O卡，DC量測板，AC量測板，開關板，HP-JET量測板，高壓量測板(選配件)。 公司: TRI (Test Research Inc.)德律科技產地: 台灣 工作條件治具類型: 真空治具.真空壓力: 最小56cmHg.外部真空管2根.氣壓: 4kg/cm2 ～ 6kg/cm2.氣壓管1根.操作溫度: 0。C ～ 30。C.環境濕度: 25% RH-75%RH.最小工作空間:深：1.5 公尺。寬：2.0 公尺。高：2.0 公尺。 TRI 8001測試畫面 公司: TRI (Test Research Inc.)德律科技產地: 台灣 工作條件電源:3? AC 220V-245V, 50/60 Hz±5% 氣壓: 4－6KGF／CM2 TRI 518測試操作畫面 相匹配的治具簡介 相匹配的治具必需為真空治具, 即治具下壓的動力為真空. 真空治具根據繞線長度分為: 長線治具,短線治具和無線治具. 我們現在使用的治具為長線治具. 治具內部結構如下: SENSOR壓棒 探針彈簧密封墊 氣管油壓撐竿雙絞線繞線BUFFER BOARD Interface Introduction of Agilent 3070  Agilent 3070 Family307X, up to 5200 nodes327X, up to 1300 nodes317X, up to 2600 nodes Anatomy of the Agilent Medalist 3070Agilent 3070 Hardware Agilent 3070Electronics CabinetDUT power suppliesExternal InstrumentsTestheadFlat Screen Monitor on  moveable arm. Keyboard on moveable arm.End Cabinet contains Computer,  Power Distribution Unit,  Testhead rotation switch.TestheadTest Fixture Emergency Power Off SwitchTest FixtureMother Board (one per bank)Module power Supplies Agilent3070 測試畫面 Anatomy of the Agilent Medalist i3070 FixtureProbe to Pin WiringTest ProbeSupport PlateProbe PlatePersonality PinAlignment PlatePrinted Circuit BoardFixture FrameVacuum GasketR1StimulusResponse Anatomy of the Agilent Medalist 3070Agilent 3070 TestHeadBank 2 Bank 1Module 2 Module 0Module 3 Module 1Slot 1Slot 1Slot 1Slot 1Slot 1: ASRUSlot 6: Module Control CardAll others: Pin CardsPin 78 - 1Pin 1 - 78 Fixture NumberingBRC: Bank Row ColumnBank 2 Bank 1Module 2Module 3Module 0Module 1Slot 1: ASRUSlot 6: ControlSlot 1: ASRUSlot 6: ControlSlot 1: ASRUSlot 6: ControlSlot 1: ASRUSlot 6: ControlMOTHER BOARDMOTHER BOARDRow 1Row11R