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高精度宽谱光源平均波长测量方法 1 高精度宽谱光栅平均波长测量技术 正确测量光谱的平均波长对提高高精度光纤蜗牛的开发具有重要意义。除了用光谱测量外，没有专门的技术来测量宽光谱源的平均波长。在光纤陀螺中,光波长的变化直接影响陀螺标度因数。高精度光纤陀螺标度因数相对精度要达到1×10–6,因此需要光波长的测量相对精度也优于1×10–6(约0.001 nm)。目前测量光波长的仪器主要有波长计和光谱仪,波长计主要用来测量窄谱光的波长,所谓窄谱是指谱宽小于5 nm。由于宽谱光空间相干性差,现有波长计无法精确测量宽谱光平均波长。宽谱光源平均波长的测量都是用光谱仪实现的,目前光谱仪测量宽谱光源平均波长精度最高达到0.01 nm,光谱仪精度难以满足高精度光纤陀螺的波长测量要求。而且光谱仪昂贵,笨重,难以进行系统集成,因此研制经济、便携、多通道、可在线测量的高精度宽谱光源平均波长测量技术对解决光纤陀螺中光波长漂移问题意义重大。 光纤陀螺是新一代光学陀螺,是当今国内外研究的热点。随着精度的提高,标度因数逐渐取代零漂,成为光纤陀螺的主要误差源。标度因数的主要影响因素是平均波长稳定性。解决波长稳定性的方案基本有三种,研制高波长稳定性光源、直接对光源发出的光进行波长控制或者对由波长引起的标度因数变化进行补偿。无论采用哪种解决方案都必须实现对宽谱光平均波长的精确测量。本文对高精度宽谱光源平均波长测量技术做了探索。 2 基本原则 3 测量方案 3.1 光学滤波器结构设计 与传统波长计对干涉条纹进行计数测量光波长的方法不同,本文提出的是一种基于全保偏光纤Sagnac干涉仪的相位检测的方案。在干涉条纹内对微小的相位信号变化进行提取,从而得到波长信息。 图1所示是干涉仪的原理图,待测光经过耦合器进入Y型Li Nb O3集成光学波导调制器,从Y波导进入光纤环,光纤环由一个顺时针绕制的CW环和逆时针绕制的CCW环连接组成,目的是为了消除由于地球自转等其他因素引入的Sagnac效应误差。从光纤环出来的光再经过Y波导和耦合器并发生干涉,由PIN-FET组件将干涉光强信号转化为电信号输出。其中,光纤环采用长度为200 m的保偏光纤以四极对称的方法绕制而成;耦合器采用低PDL(偏振相关损耗)的宽带耦合器,保证不由耦合器引入平均波长变化;光电探测器采用PIN-FET组件,跨阻抗为800 k?;Y波导输入输出尾纤为保偏光纤,输入尾纤采用45°消偏。以上光路设计满足互易性原理,可以抵消各种非互易效应引入的相位误差。 基于晶体线性电光效应,当其他因素不变,光源波长发生波动时,待测光波的相位会发生伸展或缩小,干涉信号通过相位检测技术检测该相位变化,从而可以检测到平均波长的变化。 3.2 波动方程解码算法是c 3.2.1 y导数的信号投资 本文提出了采用四态方波偏置调制,单边解调加闭环反馈的信号检测算法。为了达到最佳的信号检测灵敏度和最佳的信噪比,可以考虑不同的调制深度。本文主要介绍±π/2±3π/2四态方波偏置调制单边解调加闭环反馈方案。 通过电压信号加在Y波导上的相位信号为: 式中:T为一个调制信号周期,取周期T=4τ,τ为光在光纤中的渡越时间,如图2(a)所示。调制后的光在光纤中传输后将会延迟时间τ,图2(b)所示。 在Y波导上加入调制信号后,Y波导中正反两方向传播短的光的相位差为下式,如图2(c)所示。 两束光在Y波导处发生干涉后输出,由光电探测器探测到的信号为: 1)当光源的平均波长不发生改变时,P(t)=P0; 2)当光源的平均波长变长?λ时,?φ减小φr,则探测器探测到的功率为: 3)当光源的平均波长变短?λ时,?φ增大φr,则探测器探测到的功率为: 由上述(3)(4)(5)三式可以看出,探测器响应的是一个方波信号,如图4所示。 3.2.2 旋转效应检测误差的解调方案 解调方式要考虑尽可能的抑制由于功率波动、Sagnac效应等引入检测误差,如图3(b)所示对探测器响应曲线分析可以看出,旋转引起相位变化会导致1、2两个位置产生电压差,而1、3两个位置不会由于旋转效应产生电压差,因此本文提出依次解调1、3位置的电压差的单边解调方案可以很好的抑制旋转效应引入的检测误差。 另外,当波长发生改变引起相位差不为零时,功率的变化会给探测器的响应电压引入一个误差,这时,闭环反馈将相位差始终控制在零点会很好的抑制功率波动引起的检测误差,同时闭环反馈还可以获得偏置点高检测灵敏度和高信噪比的优点,同时大大增加了检测动态范围。实行反馈后干涉输出表达式成为: 式中:?Φm(t)是方波偏置调制,Φfb为反馈相移。当波长变化时,会产生Φr的相位变化,此时通过给波导调制器施加一个反馈电压Ufb产生一个反馈相位信号Φfb,抵消Φr,当闭环稳定时,输出波长值λ=K·(Um+Ufb),其中,Um为π/2调制