微波测量实验报告_2.docVIP

微波测量实验报告 班级： 姓名： 学号： 班内序号： 微波同轴测量系统 微波同轴测量系统的组成 图1 微波同轴测量系统图 各元件和仪器在系统中的作用： 扫描振荡器：产生频率在一定范围内周期性线性变化的扫频信号 功率分配器：将扫频信号分为功率相等的两路信号，一路VA作为测试信号，另一路VR作为参考信号 本振VCO：产生与扫频信号频率差一定的较高频信号，用于混频得到中频信号 中频滤波器：滤出混频后的中频信号，以便进行幅度和相位比较 幅度比较器：比较中频测试信号和中频参考信号的幅度 相位检测器：检测中频测试信号和中频参考信号的相位差 在本学期的实验中我们使用AV36580A矢量网络分析仪（Vector Network Analyzer）作为测量仪器。 矢量网络分析仪的操作以及测量方法 矢量网络分析仪的面板组成以及各部分功能 图2 矢量网络分析仪 光标/分析部分： 光标：插入、选择、删除光标 响应部分： 测量：改变测量值（S11、S21、S12、S22） 格式：改变绘图格式（幅频响应、相频响应或者Smith圆图） 比例：改变坐标单位（线性坐标、对数坐标） 校准：校准测量端口（SOLT法、TRL法） 激励部分： 起始：改变扫频起始频率 终止：改变扫频终止频率 中心：改变扫频中心频率 调节部分： 通过旋钮和按键调节光标位置或者数值大小 输入部分： 通过按键改变改变数值大小 S参数测量步骤 在测量前提前打开分析仪，进行预热 根据待测器件设定参数 用校准件对分析仪进行校准 连接待测器件，进行测量 如何用Smith圆图显示所测结果以及如何与直角坐标转换 点击仪器面板响应部分的格式按钮，选择Smith圆图；也可以选择直角坐标。 如何保存所测数据，以及可存的数据格式 点击仪器面板功能部分的保存按钮，选择另存为，然后选择保存目录，可保存为.jpg图片格式。 了解仪器提供的校准方法（SOLT） SOLT校准是比较常用的一种方法，能够提供优异的精度和可重复性。仪器经过正确的SOLT校准后，可以测量百分之一分贝数量级的功率和毫度数量级的相位。常用的校准套件中都包含SOLT标准校准件。 思考题 是否可以直接进行电路参数的测量，为什么？如何从测量的S参数导出电路参数。 不可以直接进行测量，需要先进行校准。电路Z参数可以由下式导出： 微波同轴测量系统的校准方法 常用校准方法 SOLT校准方法 SOLT校准方法要求使用短路、开路和负载标准校准件。如果被测件为多端口网络，还需要分别为公母连接头提供对应的标准件，连接两个测量平面，形成直通连接。 这种校准方法使用12项误差修正模型，其中被测件的正向误差有6项，如图3，反向有6项，如图4。 图3 12项误差修正模型正向误差 图4 12项误差修正模型反向误差 12项误差模型各误差项说明： EDF，EDR：反射参数，衡量VNA耦合器分离前向波和反射波程度，数值越大越好。小的反射参数会导致信号的耦合泄漏； ERR，ERF：传输参数，误差与反射测量相关，可以用短路和屏蔽开路校准件进行测量； EXF，EXR：隔离，串扰，误差与串扰相关，可以通过测量接匹配负载的1口和2口来确定； ESF，ESR以及 ELF，ELR：信号源匹配和负载匹配，指信号源与50欧姆负载的匹配程度以及负载的质量，这些误差可以通过测量S11和S22确定； ETF，ETR：传输参数，误差与传输测量相关，通过测量1、2口互连时的传输确定。 网络分析仪的校准即是通过数学的方法消除以上误差项，得到被测器件真实参量(S11，S12，S21，S22)的过程。 TRL校准方法 TRL校准方法要求使用直通、反射、延迟线/匹配负载标准件。这种校准方法使用10项或8项误差修正模型，如图5。 图5 8项误差修正模型 SOLT与TRL的比较 根据SOLT和TRL校准过程的误差模型分析，我们可以得到这样几个结论： TRL方法计算简单，但该方法需要网络分析仪具有四个接收机，分别检测信号a0,a1,b0,b1（以正向为例），而SOLT方法只需要三个，分别检测信号a0,b0,b1； TRL方法仅需要简单的校准件，不需要理想的强反射件（理想的开路或短路），并且传输线校准件比较容易实现；而SOLT方法则需要很多的校准件，并且校准件的性能指标对校准结果的影响较大； SOLT方法比较适用于同轴环境，也可以用于高频探针和在片测量；TRL方法比较适用与非同轴环境，例如共面波导，微带线等； TRL方法中，传输线的工作频带和起始频率的关系是8：1，因此TRL校准是窄带的，宽带的TRL校准需要多个不同长度的线，这样会浪费面积；而SOLT方法是宽带的。 SOLT校准方法得到的测试结果明显优于TRL。另外在校准和测试过程中，采用TRL校准方式的测试由于不同的传输线适应不同带宽的校准频率范围，校准