西北工业大学数电实验报告1.docVIP

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2023-10-10 发布于湖北
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西北工业大学数电实验报告1.doc

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实验1 TTL集成逻辑门参数测试学号：姓名：日期：组号：实验目的：（1）加深了解TTL逻辑门的参数意义。（2）掌握TTL逻辑门电路的主要参数及测量方法。（3）认识各种电路及掌握空闲端处理方法。二、实验设备：数字电路实验箱，数字双踪示波器，函数信号发生器，数字万用表，74LS00，电位器，电阻。实验原理：门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，目前使用最普遍的双极型数字集成电路是TTL逻辑门电路。 TTL集成电路的使用规则：插集成块时，要认清定位标记，不得插反。使用电源电压范围为+4.5V~+5.5V。实验中要求使用Vcc=+5V。电源极性不允许接错。空闲输入端处理方法。悬空，相当于正逻辑“1”，一般小规模集成电路的数据输入端允许悬空处理。但易受外界干扰，导致电路逻辑功能不正常。因此，对于接有长线的输入端，中规模以上的集成电路和使用集成电路较多的复杂电路，所有控制输入端必须按逻辑要求接入电路，不允许悬空。输入端通过电阻接地，电阻值的大小将直接影响电路所处状态。输出端不允许并联使用（三态门和OC门除外），否则不仅会使电路逻辑功能混乱，并会导致器件损坏。输出端不允许直接接电源Vcc，不允许直接接地，否则会损坏器件。实验内容： TTL信号的产生与非门的测试用74LS00实现逻辑函数： F=AB F=A+B F=A eq \o\ac(○,+)B 实验结果： F=AB= F=A+B= F=A eq \o\ac(○,+)B= CH1—A：TTL CH2—B：0V CH2—B：+5V F=AB F=A+B F=A eq \o\ac(○,+)B