近红外分析仪水分参数校准规范.pdfVIP

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近红外分析仪水分参数校准规范 1 范围 本规范适用于近红外分析仪水分参数的校准。规范所指水分仅限于稻谷、大米、小 麦、玉米、大豆的水分。 2 引用文件 本规范引用了下列文件: JJG 891—2019 电容法和电阻法谷物水分测定仪检定规程 GB/T 5497—1985 粮食、油料检验 水分测定法 GB/T 24895—2010 粮油检验 近红外分析定标模型验证和网络管理与维护通用规则 GB/T 24900—2010 粮油检验 玉米水分含量测定 近红外法 凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件, 其最新版本(包括所有的修订单)适用于本规范。 3 术语 校准标准差 standard error of prediction corrected for bias(SEP) 验证样品组分的近红外测定值扣除系统偏差后与其标准值之间的标准差,表示定标 模型调整后的准确度。 4 概述 近红外分析仪水分参数(以下简称近红外分析仪)是一种常用的谷物水分分析设备, 通常由光源、金属膜反射镜、样品池、进光口、固定式光栅、二极管阵列等部件构成, 其原理是利用水分子中 C-H、N-H、O-H、C-O 等化学键的泛频振动或转动对近红外光的 吸收特性,用化学计量学方法建立谷物近红外光谱与其水分含量之间的相关关系,计算 谷物样品的水分含量。 5 计量特性 5.1 示值误差 5.2 校准标准差 5.3 重复性 计量特性技术指标见表 1 表 1 计量特性技术指标 技术指标 谷物种类 校准标准差/ % 重复性/ % 稻谷 0.20 0.072 大米 0.20 0.072 玉米 0.25 0.11 小麦 0.20 0.072 大豆 0.25 0.11 注:以上指标不作为合格判定依据,仅供参考。 6 校准条件 6.1 环境条件 6.1.1 校准时环境温度: (5~30) ℃。 6.1.2 相对湿度:≤80%。 6.2 校准用设备 校准用设备见表 2。 表 2 校准用设备 名称 要求 电子天平 级,最大秤量满足实验要求,实际分度值不大于 0.1 mg 在 105 ℃时,温度偏差不超过±2.0 ℃,温度波动度不超过± 电热恒温干燥箱 0.5 ℃,烘干工作区域温度均匀度不超过 2.0 ℃ 电容法和电阻法谷物水分测定仪 1 级及以上 圆孔试验筛 孔径为 1.5 mm 和 2.0 mm 磨膛材料不吸水,密闭,无死角,便于清理,能迅速而均匀粉 实验室用电动粉碎机 碎 30 g 试样,达到所需粒度要求,粉碎时不发热 干燥皿 备有变

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