小角X射线散射及聚合物表征分析ppt课件.pptxVIP

材料与冶金学院 小角X射线散射技术 (SAXS) 与聚合物材料分析 组员： 2018/6/13 1 一、小角X射线散射概述： 1.1 简介： 小角X射线散射(SAXS) 是指当X射线透过试样时，在靠近原 光束2o~5o 的小角度范围内发生的散射现象。小角X射线散射是一 种区别于大角X射线 (2θ从5o~165o ) 衍射 ( Wide Angle X-ray Diffraction ，WAXD) 的结构分析方法。利用X射线照射样品，相 应的散射角2θ小(5o~7o)，即为X射线小角散射。其可用于分析特 大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末 粒子(或固体物质中的超细空穴)的大小、形状及分布。可测量 高分子粒子或空隙大小和形状、共混的高聚物相结构分析、长周 期、支链度、分子链长度的分析及玻璃化转变温度的测量。 2 1.2.理论基础： 20世纪初，伦琴发现了比可见光波长小的辐射。由于对该 射线性质一无所知，伦琴将其命名为X射线 (X-ray)。 到20世纪30年代，人们以固态纤维和胶态粉末为研究物 质发现了小角度X射线散射现象。 当X射线照射到试样上时，如果试样内部存在纳米尺度的 电子密度不均匀区，则会在入射光束周围的小角度范围内( 一般29 6º)出现散射X射线，这种现象称为X射线小角散射 或小角X射线散射(Small Angle X-ray Scattering,简写为SAXS )。 3 康普顿散射 光电效应 荧光X射线 4 吸收体 相干散射 汤姆逊散射 不相干散射 热效应 透射X射线 X射线与物质的作用 反冲电子 俄歇电子 光电子 入射X射线 散射X射线 电子 1.3 X射线分析技术的运用 X射线是一种波长很短(0.05-0.25nm)的电磁波 当一束X射线照射到试样时，可观察到两个过程： (1)若试样具有周期性结构(晶区)，则X射线被相干散射， 入射光和散射光之间没有波长的改变，这种过程称为大角X 射线衍射效应。 (2)若试样具有不同电子密度的非周期性结构(晶区和非晶 区)，则X射线被不相干散射，有波长改变，这种过程称为 小角X射线衍射效应。 5 二、 SAXS分析及其仪器结构 2. 1 产生小角X射线散射的条件 1. 纳米尺寸的微粒子 2. 纳米尺寸的微孔洞 3. 存在某种任意形式的电子云密度起伏 4. 在高聚物和生物体中，结晶区和非晶区交替排列形成的 长周期结构 5. 其物理实质在于散射体和周围介质的电子云密度的差异。 6 2.2 X射线在晶体中衍射的基本原理 射入晶体的X射线使晶体内原子的电子发生频率相等的强制 振动，因此每个原子可作为一个新的X射线源向四周发射波长 和入射线相同的次生X射线。他们波长相同，但强度非常弱。 但在晶体中存在按一定周期重复的大量原子，这些原子产生的 次生X射线会发生干涉现象。当次生X射线之间的光程差等于 波长的整数倍时光波才会相互叠加，从而被观察到。 7 2.3 小角X射线散射仪基本结构 ① 准直系统，获得发散度很小的平行光束，分点准 直和线准直。准直系统的狭缝越细越好，准直系 统长度越长越好，这样可获得发散度很小的平行 光束。 ③ 真空室 ④ 接收系统 ② 试样架 8 SAXS几何装置示意图 X 光源：(1)旋转阳极靶 (2) 同步辐射 探测器：(1)照相法 (2)计数管法 (3)位敏探测器 (4)成像板法 2.3 小角X射线散射系统组成 9 使用真空准直配和照相法记录X射线强度，可得 全方位的小角散射花样，适用于取向粒子，可避免准直 2.4 SAXS准直系统类型 (1)针孔准直系统 误差，不适用于定量测定 10 计数管接收散射X射线强度。第一二狭缝宽度固定。 第三狭缝宽度可调，可挡住前两个狭缝产生的寄生散射 (2) 四狭缝准直系统 11 较高的角度分辨率，扩展了粒度的研究范围。可获得小 角度的散射强度数据，使得外推的零角散射强度值精确，提高积 (3) Kratky U准直系统 分不变量的计算精度。 12 (4) 锥形准直系统 其一般多用于定量测定。 13 口 胶体分散体系(溶胶、凝胶、表面活性剂等) 口 生物大分子(蛋白质、核酸) 口 聚合物溶液，结晶取向聚合物(工业纤维、薄膜)，嵌段 聚合物 口 溶致液晶、液晶态生物膜、囊泡、脂质体 2.4小角X光散色研究的几种常见体系 14 2.5 SAXS分析 I.定性分析： (1)体系电子密度的均匀性(不均匀才有散射)； (2)散射体的分散性(单分散或多分散，由Guinier图判 定)； Guinier定理公式： Rg 是粒子回转半径。通过 ln I(q) 对q2 作图，从斜率可求 出粒子的回转半径Rg和球形粒子半径 R (R= (3 / 5 )1/2Rg