第十三章扫描电子显微镜演示文稿.pptVIP

二、 二次电子像形貌衬度的应用 (一) 断口分析 1. 沿晶断口 沿晶断口的特征呈冰糖 块状， 见图13-11。 断 裂发生于晶粒表面，属 于脆性断裂，断口上无 塑性变形的迹象 第四节 表面形貌衬度原理及其应用 图13-11 沿晶断口的形貌特征 本文档共44页；当前第30页；编辑于星期六\12点26分 二、 二次电子像形貌衬度的应用 (一) 断口分析 2. 韧窝断口 韧窝断口属于穿晶韧性断口，形貌特征见图13-12。断口由韧 窝和撕裂楞组 成，韧窝底部 有时可见第二 相粒子存在 断口呈现韧性 断裂特征 图13-12 韧窝断口的形貌特征 第四节 表面形貌衬度原理及其应用 本文档共44页；当前第31页；编辑于星期六\12点26分 第十三章扫描电子显微镜演示文稿 * 本文档共44页；当前第1页；编辑于星期六\12点26分 * 优选第十三章扫描电子显微镜 本文档共44页；当前第2页；编辑于星期六\12点26分 扫描电子显微镜的成像原理与透射电镜完全不同， 不是利用电磁透镜聚焦成像， 而是利用细聚焦电子束在样品表面扫描，用探测器接收被激发的各种物理信号调制成像 目前，扫描电子显微镜二次电子像的分辨率已优于 3nm，高性能的场发射枪扫描电子显微镜的分辨率已达到 1nm 左右，相应的放大倍数可高达30万倍 与光学显微镜相比， 扫描电子显微镜不仅图像分辨率高，而且景深大，因此在断口分析方面显示出十分明显的优势 扫描电子显微镜开始发展于20世纪 60年代，随其性能不断提高和功能逐渐完善， 目前在一台扫描电镜上可同时实现组织形貌、微区成分和晶体结构的同位分析， 现已成为材料科学等研究领域不可缺少的分析工具 第十三章 扫描电子显微镜 本文档共44页；当前第3页；编辑于星期六\12点26分 第十三章 扫描电子显微镜 本章主要内容 第一节 电子束与固体样品作用时产 生的信号 第二节 扫描电子显微镜的构造和工 作原理 第三节 扫描电子显微镜的主要性能 第四节 表面形貌衬度原理及其应用 第五节 原子序数衬度原理及其应用 本文档共44页；当前第4页；编辑于星期六\12点26分 第一节 电子束与样品相互作用产生的信号 样品对入射电子束的作用主要是散射，其中包括弹性散 射和非弹性散射。这一过程产生的信号主要有，背散射电子、 吸收电子和透射电子，还有韧致辐射(连续X射线) 入射电子对样品的作用主要是原子电离，这一作用产生的信 号主要有，二次电子、特 征 X射线和俄歇电子，此 外还有阴极荧光等信号 以下将分别介绍各种物理 信号及其特点，以及所反 映的样品性质和用途 图13-1 所示为电子束与样 品作用产生的主要信号 图13-1 电子束与固体样品作用产生的信号 本文档共44页；当前第5页；编辑于星期六\12点26分 一、背散射电子 被样品原子散射，散射角大于90?而散射到样品表面以外 的一部分入射电子称为背散射电子， 包括弹性背散射电子和 非弹性散射背散射电子 产生于样品表层几百纳米的深度范围 能量范围较宽，从几十到几万电子伏特 产额随样品平均原子序数增大而增大， 所以背散射电子像的 衬度可反映对应样品位置的平均原子序数 背散射电子像主要用于定性分析材料的成分分布和显示相的 形状和分布 第一节 电子束与样品相互作用产生的信号 本文档共44页；当前第6页；编辑于星期六\12点26分 二、吸收电子 入射电子进入样品后，经多次非弹性散射使其能量消耗 殆尽，最后被样品吸收，这部分入射电子