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x射线源x线相位衬度成像实验参数的选择 1 相位衬度成像方法 传统的x射线成像技术是基于吸收阈值的。换句话说，不同的样品吸收会根据样品的密度和厚度进行吸收，并获得相应的图像衬底度。而对于以轻元素为主的弱吸收物体或吸收差别很小的物体,如生物软组织和有机复合材料等,其对X射线的吸收很弱,因而无法用传统的X线成像技术对其进行成像。但是这类物质的相位衬度敏感性却是其吸收衬度敏感性的1 000倍左右,因此,近年来针对X射线相位衬度成像技术的研究,在医学、材料、信息以及许多工业应用领域中获得了极其广泛的关注。 从成像原理上看目前相位衬度成像方法主要分为3类:干涉法、衍射增强法及类同轴相衬法,其测量对象分别为相位、相位的一阶导数、相位的二阶导数。其中基于微焦点X射线源的类同轴相位衬度成像方法,因其实验装置简单,成像条件低,速度快,分辨率高,样品不需特殊处理,可在普通实验室内进行实验等原因,越来越受到人们的重视。因此采用以微焦点X射线源为实验平台的同轴相位衬度成像方式,对弱吸收样品物质进行了初步成像实验研究,为相衬成像的进一步应用打下基础。 2 传统相衬成像方法,其成像的基础就是通过相移项的变化进行相衬度的成像 在传统的X线成像中,图像探测器一般是紧贴在样品后面放置,探测器上的每一点记录了经过样品上相应点后的X射线强度,也即是得到了样品中各点的吸收系数对在光线路径上的积分,可以用公式(1)来表示