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粒子辐射对电信系统及设备的影响第1部分：总则
1范围
本文件提供了粒子辐射对电信系统及设备的影响以及减轻软错误影响的通用指南和方法。
本文件适用于电信中心和数据机房内的电信设备，包括安装在电信中心的核心网设备和接入网设
备。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，
仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本
文件。
ITU-TK.130电信设备中子辐照试验方法（Neutronirradiationtestmethodsfor
telecommunicationequipment）
ITU-TK.131应用软误差测量的电信系统设计方法(Designmethodologiesfor
telecommunicationsystemsapplyingsofterrormeasures)
ITU-TK.138基于粒子辐射试验的缓解措施质量估计方法和应用准则（Quality
estimationmethodsandapplicationguidelinesformitigationmeasures
basedonparticleradiationtests）
ITU-TK.139受粒子辐射影响的电信系统的可靠性要求（Reliabilityrequirements
fortelecommunicationsystemsaffectedbyparticleradiation）
ITU-TK.Sup11现场可编程门阵列的软错误测量RecommendationITU-TK.131
Supplement11(2018),Softerrormeasuresoffieldprogrammablegate
arrays
3术语、定义和缩略语
3.1术语和定义
下列定义适用于本文件：
3.1.1
中子辐照试验neutronirradiationtest
通过使用由紧凑型加速器驱动的中子源发出的中子辐射来评估软错误质量的一种方法。
3.1.2
软错误softerror
设备上数据中的一个或多个比特位的值被翻转的现象。软错误不构成对实际半导体器件的损坏。
3.1.3
软错误率softerrorrate
单位时间内软错误发生次数。
3.1.4
故障率failureintime(FIT)
9
表示在10亿（10）小时运行中可预期的故障数的单位。
3.2缩略语
以下缩略语适用于本文件：
CRAM可配置随机存储器ConfigurationRandomAccessMemory
DICE双互锁存储单元DualInterlockedStorageCell
ECC纠错码ErrorCorrectionCode
EUT受试设备Equipmentundertest
FIT故障率FailureInTime
FPGA现场可编程门阵列Field-Programma
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