组件EL测试培训.pptx

组件EL测试培训冷传全EL检测原理EL检测仪，又称太阳能组件电致发光缺陷检测仪，是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺陷检测及生产工艺监控的专用测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光，测试仪下方的摄像头可以捕捉到这个波长的光并成像于电脑上。因为通电发的光与PN结中离子浓度有很大的关系，因此可以根据图像来判断硅片内部的状况。多晶EL良品成像单晶EL良品成像不良缺陷介绍缺陷种类一：黑心片EL照片中黑心片是反映在通电情况下电池片中心一圈呈现黑色区域，该局部没有发出1150nm的红外光，故红外相片中反映出黑心，此类发光现象和硅衬底少数载流子浓度有关。这种电池片中心部位的电阻率偏高。该种类属于低效片的一种。危害：造成热斑引起组件烧毁，组件整体功率下降缺陷种类二：黑斑片黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质污染所致。通常少数载流子的寿命和污染杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域位错密度107个/cm2，黑斑边缘区域位错密度106个/cm2均为标准要求的1000～10000倍这是相当大的位错密度.危害：组件使用中产生热斑烧毁组件，且导致出厂功率下降。缺陷种类三：黑片焊接短路黑片造成原因：一般焊接时收尾处堆锡导致电池片正负极短路。来料黑片〔全黑/半边黑〕造成原因：目前常规硅片为P型片，工艺要求加磷形成PN结。如果硅片错用N型片，依然使用常规加磷工艺就会造成无PN结形成〔N型片加硼〕。从而导致全黑。半边黑造成原因：背铝场印刷偏移，导致和导电正极栅线无接触错位，局部开路。危害：所有黑片都是不允许出现在组件中，黑片的存在会引起组件正常的使用异常，且功率损失非常大。缺陷种类三：断栅虚印电池片断栅是在丝网印刷时造成的，由于浆料问题或者网版问题导致印刷不良。轻微的断栅对组件影响不是很大，但是如果断栅严重那么会影响到单片电池片的电流从而影响到整个组件的电性能。分布式断栅集中式断栅危害：造成断栅处电流收集障碍，影响组件的发电效率。值得注意的是，如果电池片焊接中出现过焊现象，导致主栅线电流收集堵塞也会显现上述情况。〔以下图〕缺陷种类五：混档混档是由于转换效率不同的电池片混入同一个组件中，特别明亮的电池片是电流较大的电池片，电流差异越大，亮度的差异就越明显。危害：混档会导致高档次的电池片在组件工作过程中不能彻底发挥其发电能力，从而造成浪费。而低效率的电池片在时间发电中会发热过大，从而产生热斑效应，对组件的寿命和性能产生隐患。缺陷种类五：虚焊、脱焊虚焊是因为焊接过程中焊带和电池电极没有形成良好的接触面导致电流收集障碍。虚焊有正极虚焊负极虚焊，正极虚焊成条状如图左，负极虚焊多数成团状面积较小如图右。危害：虚焊局部接触电阻增加，导致发热异常。虚焊组件热斑爆板的概率非常高。负极脱焊正极脱焊缺陷种类六：扩散异常EL显示中间发黑，四周发亮。经检测属于电池片中间未扩散或者扩散面放反流入下到工序导致。危害：影响组件使用发电效率和寿命。漏电区域容易烧毁组件。缺陷种类七：隐裂隐裂的产生原因非常多，主要是因为外部压力或者自身应力原因导致电池片硅基出现裂纹。隐裂缺陷一般通过肉眼无法识别，只有经过EL测试设备，隐裂地方会出现黑色纹路。在实际情况中，还有那些类型会造成电池片成像时带有黑色纹路？裂纹可能造成电池片局部毁坏或电流的缺失。在EL测试下，如果表现为以裂纹为边缘的一片区域呈完全的黑色，那么该区域为破片。裂纹会造成其横贯的副栅线断裂，从而影响电流收集降低组件功率。根据此特性，各种裂纹造成的电池失效面积如下：危害：1.造成相应的电池片面积失效，从而降低组件功率输出。2.严重的情况下会引起组件热斑烧毁。3.造成组件外表形成蜗牛纹，非常影响外观。4.隐裂具有一定的延伸性，发生隐裂的位置可能随状态变化。缺陷种类七：裂片隐裂裂片裂片是由隐裂恶化开展而来的一种现象，裂片的同时一定会带来电池面积的黑色阴影失效。如何有效的区分隐裂和裂片？〔强光照射〕缺陷种类七：刻蚀不良危害：造成效率低下总结导致电池片隐裂或者破片的因素，下面做简单的列举：1.用叉车在运输组件的过程中，由于叉车较短造成最下方组件被压弯造成电池片隐裂纹。2.清胶时组件下方没有垫泡沫垫或者泡沫垫过高导致组件弯曲造成电池片隐裂纹。3.互联条和电池片的膨胀系数不一致造成电池片隐裂在经过层压后变成破片。4.来料电池片本身存在“内伤〞〔晶体疏松〕，这些电池片在经过单焊、串焊过程大局部都会破碎，但也有少量的隐裂片仍保持原状，但是经过层压后就会变成破片。4.来料电池片本身存在“内伤〞〔晶体疏松〕，这些电池片在经过单焊、串焊过程大局部都会破碎，但也有少量的隐裂片仍保持原状，但是经过层压后就会变成破片。5.层叠头部人员