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本发明公开了一种基于张量的半导体载流子有效质量各向异性的计算方法，包括：根据半导体材料的能带结构确定能带极值位置；构建能带极值位置的有效质量张量矩阵；计算有效质量张量矩阵，并判断其正定性；当判断有效质量张量矩阵正定时，根据能带极值位置处的可微性，判断有效质量张量的有效性；否则，更新能带极值位置，直至得到的有效质量张量矩阵正定；根据有效质量张量的有效性选择相应的计算方式计算能带极值位置处各个方向上的有效质量，以对半导体有效质量各向异性进行分析。本发明提供的方法减小了计算量，避免了现有张量法易出现的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN113609662A
(43)申请公布日2021.11.05
(21)申请号202110858215.7
(22)申请日2021.07.28
(71)申请人西安电子科技大学
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