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计算机组成原理 运算器实验—算术逻辑运算实验.pdf

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实验报告

一、实验名称

运算器实验—算术逻辑运算实验

二、实验目得

1、了解运算器得组成原理。

2、掌握运算器得工作原理.

3、掌握简单运算器得数据传送通路。

4、验证运算功能发生器(74LS181)得组合功能.

三、实验设备

TDN-CM++计算机组成原理教学实验系统一套,导线若干。

四、实验原理

实验中所用得运算器数据通路如图1-1所示。其中两片74LSl81以串

行方式构成8位字长得ALU,ALU得输出经过一个三态门(74LS245)与数据总

线相连.三态门由ALU—R控制,控制运算器运算得结果能否送往总线,低电平

有效。

为实现双操作数得运算,ALU得两个数据输入端分别由二个锁存器DR1、

DR2(由74LS273实现)锁存数据。要将数据总线上得数据锁存到DRl、DR2中,

锁存器得控制端LDDR1与DDR2必须为高电平,同时由T4脉冲到来。

数据开关(“INPUTDEVICE”)用来给出参与运算得数据,经过三态(74

LS245)后送入数据总线,三态门由SW—B控制,低电平有效。数据显示灯(“B

USUNIT")已与数据总线相连,用来显示数据总线上得内容.

图中已将用户需要连接得控制信号用圆圈标明(其她实验相同,不再说明),

其中除T4为脉冲信号外,其它均为电平信号。由于实验电路中得时序信号均已连

至“W/RUNIT”得相应时序信号引出端,因此,在进行实验时,只需将“W/

得T4接至“STATEUNI得微动开关KK2得输入端,按动微动开关,

即可获得实验所需得单脉冲.

ALU运算所需得电平控制信号S3、S2、S1、S0、Cn、M、LDDRl、

LDDR2、ALU-B、SW-B均由“SWITCHUNIT”中得二进制数据

开关来模拟,其中Cn、ALU—B、SW一B为低电平有效LDDR1、LDDR2

为高电平有效。

对单总线数据通路,需要分时共享总线,每一时刻只能由一组数据送往总线。

五、实验内容

1.输入数据通过三态门74LS245后送往数据总线,在数据显示灯与数码显

示管LED上显示。

2.向DRl(或DR2)中置数,经ALU直传后,经过三态245送入数据总线,

在数据显示灯与数码显示管LED上显示

3。将输入DRl与DR2中得两个数进行算术逻辑运算,验证AlU得功能,结果

在数据显示灯与数码显示管LED上显示.

六、实验步骤

1、输入数据通过三态门74LS245后经过数据总线在数据显示灯与数码显

示管LED上直接显示

(1)按下图连接实验线路,仔细查线无误后,接通电源。

(2)用二进制数码开关输入数据65H,观察总线数据显示灯与LED灯得变

化。设置:SW-B=1;从输入开关输入:01100101;打开三态门

错误!错误!错误!

SW-B=0;数据在数码管上显示:LED—B=0,发W/R脉冲。

错误!

(3)观察实验结果。

2、向DRl(或DR2)中置数,经ALU直传后,经过三态245送入数据

总线,在数据显示灯与数码显示管LED上显示。

(1)重新连接电路,仔细检查无误之后,接通电源。

(2)向DR1与DR2寄存器中置入数据65H与A7H。流程为:

数据开关寄存器DR1打开数据开关打开寄存器DR2

三态门三态门

1)、用输

入开关向寄存器DR1置数.

使SWITCHUNIT单元中得开关SW-B=1

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