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半导体制冷器异常评估方法、系统、计算机设备.pdfVIP

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  • 2024-02-28 发布于四川
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半导体制冷器异常评估方法、系统、计算机设备.pdf

    本申请涉及一种半导体制冷器的异常评估方法、系统、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：对半导体制冷器进行红外辐射温度测量，得到红外辐射温度信息；基于预设温度阈值信息，将所述红外辐射温度信息转化为所述半导体制冷器的温度热力图；根据所述温度热力图，对所述半导体制冷器进行异常评估。采用本方法能够根据所述温度热力图，确定所述半导体制冷器异常区域的异常信息，基于各异常区域的异常信息进行异常评估，可以提高评估的准确度。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117607646A

    (43)申请公布日2024.02.27

    (21)申请号202311452586.0G01J5/48(2022.01)

    (22)申请日2023.11.0

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