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- 2024-03-02 发布于四川
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本公开实施例提供了一种半导体结构及其制备方法,其中,半导体结构的制备方法,包括:提供第一介质层和第二介质层,所述第一介质层中形成有至少一个第一开口,所述第二介质层填充所述第一开口并覆盖所述第一介质层的表面;提供酸性抛光组合物,所述酸性抛光组合物包括带正电荷的研磨颗粒;采用所述酸性抛光组合物对所述第二介质层执行化学机械研磨工艺,以使得所述第二介质层的上表面与所述第一介质层的上表面齐平。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117637460A
(43)申请公布日2024.03.01
(21)申请号202210956365.6
(22)申请日2022.08.10
(71)申请人长鑫存储技术有限公司
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