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本申请公开了一种SiC外延片及其制备方法,本申请的SiC外延片的制备方法包括以下步骤:提供衬底,将衬底置于反应腔中,衬底具有第一表面,在第一表面上形成第一缓冲层,第一缓冲层包括6H‑SiC;形成第二缓冲层,第二缓冲层位于第一缓冲层背离衬底一侧,第二缓冲层包括4H‑SiC;形成外延层,外延层位于第二缓冲层背离第一缓冲层一侧。本申请在通过在衬底与第二缓冲层之间生长第一缓冲层,扰乱衬底位错的传递,通过该方法得到平滑且缺陷低的SiC外延片。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117672815A
(43)申请公布日2024.03.08
(21)申请号202311623942.0
(22)申请日2023.11.29
(71)申请人中环领先半导体科
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