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本发明涉及芯片电路检测领域，更具体地，涉及一种安全检测电路及其检测方法。其中方法包括：控制模块设置相位比较模块阈值；TDC采样模块对系统电路进行采样，得到采样信号；将采样信号通过相位分析模块进行数据分段处理，得到分段后采样信号；将分段后采样信号通过相位分析模块进行分析得到分析数据；将分析数据通过相位比较模块与相位比较器阈值进行比较，若未超出阈值范围则继续监测；若超出阈值范围则通过预警模块会给控制模块返回一个中断信号，使得系统正常中断，停止系统任务运行。由于注入攻击都会影响电路信号，因此本方法TD
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117723938A
(43)申请公布日2024.03.19
(21)申请号202311728526.7
(22)申请日2023.12.14
(71)申请人广东工业大学
地址510080
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