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OM
EDS
SEM
光学显微镜
optical
microscope
能谱仪
(Energy
Dispersive
Spectrometer)
(分为点、线、
面扫map)
扫描电子显微镜
(scanning
electron
microscope)
原理
显微镜是利用凸透镜的放大成像原理,将人眼
不能分辨的微小物体放大到人眼能分辨的尺寸,其主要是增大近处微小物体对眼睛的张角(视
角大的物体在视网膜上成像大),用角放大率
M表示它们的放大本领。
各种元素具有自己的X射线特征波长,特征波
长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E,能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。
利用二次电子信号成像来观察样品的表面形
态,即用极狭窄的电子束去扫描样品,通过电
子束与样品的相互作用产生各种效应,其中主要
是样品的二次电子发射
介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性
貌观察手段
当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面
可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像
利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激
发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大
和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。
其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品,在样
品表面激发出次级电子,次级电子的多少与电子束
入射角有关,也就是说与样品的表面结构有关,次
大于0。2nm
看不清亚结构
探头:一般为Si(Li)锂硅半
导体探头
探测面积:几平方毫米
分辨率(MnKa):~133eV
分辨率:3—4nm
放大倍数:20万倍特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,可用于成分分析。
由于电子束只能穿透很浅表
时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、
特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生
的电磁辐射。
SEM是利用电子和物质的相互作用,可以获取
被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,
如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电
场或磁场等等.主要是利用二次电子信号成像来
观察样品的表面形态,即用极狭窄的电子束去
扫描样品,通过电子束与样品的相互作用产生
各种效应,其中主要是样品的二次电子发射。
级电子由探测体收集,并在那里被闪烁器转变为光
信号,再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控
制荧光屏上电子束的强度,显示出与电子束同步的
扫描图像.图像为立体形象,反映了标本的表面结
构。
面,只能用于表面分析.
有很大的景深,视野大,成
像立体,可直接观察表面的
细微结构;
试样制备简单。
目前的扫描电镜都配有X射
线能谱仪装置,这样可以同
时进行显微组织性貌的观察
和微区成分分析
TEM
透射电镜
(transmission
electron
microscope
把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品
上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从
而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密
度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,
影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。
由于电子波长非常短,透射电子显微镜的分辨率
比光学显微镜高的很多,可以达到0。1~0.2nm,
放大倍数为几万~百万倍。
与光学显微镜的成像原理基本一样,所不同的是前
者用电子束作光源,用电磁场作透镜。
透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所
产生的物像,投射到荧光屏上或照相底片上进行观
察
SEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透
试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很
0。2nm
近百万倍
亚显微结构、超微结构
使用透射电子显微镜可以用
于观察样品的精细结构,甚
至可以用于观察仅仅一列原
子的结构,比光学显微镜所能
薄
,
够观察到的最小的结构小数
万倍。
sem
tem
区别
HRTEM高分辨透射电镜
Highresolution
transmission
electron
microscope
SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射
电子被收集而成像.TEM可以表征样品的质厚
衬度,也可以表征样品的内部晶格结构。TEM
的分辨率比SEM要高一些。
SEM样品要求不算严苛,而TEM样品观察的部分
必须减薄到100nm厚度以下,一般做成直径
3mm的片,然后去做离子减薄,或双喷。
高分辨电镜物镜极靴间距比较小,所以双倾台
的转角相对于分析型的电镜要小一些.
HRTEM是透射电镜的一种,将晶面间距通过明
暗条纹形象的表示出来。通过测定明暗条纹的
间距,然后与晶体的标准晶面间距d对比,确定属于哪个晶面。这样很
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