《点源透过率杂散光测试规范》规范要求.docx

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T/CIXXX—2024

点源透过率杂散光测试规范

1范围

本文件规定了以点源透过率评价光机系统杂散光特性的测试方法、函数表达方式。

本文件适用于可见光谱区域内使用的光机系统，其他光谱区域内使用的系统可参照。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注明日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注明日期的引用文件，其最新版本（包

括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T10988-2009《光学系统杂（散）光测量方法》

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

杂散光Straylight

到达光学系统像面的非目标、非成像光线，在探测器上形成的背景噪声。（由进入光学或电子光学系统的部分辐射所引起的在该系统像面上的有害光照度，此辐射可以来自该系统

视场的外部或内部。

3.2

点源透过率Pointsourcetransmittance

视场外离轴角为θ的点源目标辐射，经待测光机系统后在探测器上产生的辐照度Ed与待

测光机系统入口处的辐照度E0之比。

PST(θ)=

4符号

下列符号适用于本标准

a)E0：入口处辐照度（W/m2）；

b)Ed：探测器处辐照度（W/m2）；

c)PST：点源透过率（无量纲）。

5测量原理

Ed(θ)

0E

0

(1)

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图1是用于测量待测光机系统点源透过率的典型装置。点源透过率杂散光测试系统在准直系统焦面放置一个均匀发光的光源，经准直系统后出射平行光，模拟无穷远处点源辐射，待测光机系统置于准直光束中，并使其可以转动，改变光源相对待测光机系统的角度位置，同时保证平行光束始终覆盖待测光机系统入口。待测光机系统入口处和像面处的辐照度采用光电探测器来测量。上述检测信号之比即为点源透过率。测量点源透过率的特别条件是测试系统必须有一个大动态的光度范围,通常这可以是107~108或更大。可采用中性衰减片组合

插入光源，实现测试所需的动态量程。

图1点源透过率杂光测试系统原理示意图

1——光源；

2——准直系统；

3——光电探测系统；

4——转台及相应支撑结构；

5——待测系统；

6——光陷阱；

7——暗室；

8——测试腔。

6.试验条件

6.1光源

6.1.1光谱特性

光源的辐射波段要与待测光机系统的工作波段相匹配，或光源的辐射波段要在待测光机

系统工作波段范围内。

6.1.2稳定性

在整个点源透过率测量周期内，辐照度随时间变化应小于5%。

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6.1.3均匀性

保证光源出射光的空间分布均匀性，使其经准直系统出射的平行光在待测光机系统有效

测试口径范围内光束均匀性优于80%。

6.2准直系统

准直系统无需很好地校正有关的像差（光束准直性可达到分级甚至十分级别）。

6.2.1出射口径

准直系统出射光口径应略大于待测光机系统有效测试口径，考虑到边缘衍射、对准精度，

通常准直系统出射光口径大于有效测试口径的10%。

6.2.3准直性

出射平行光束准直性达到分级水平即可。

6.3光电探测器

6.3.1线性

连同放大器、读取电路等在内的光电探测器,在所使用的光强范围内应保持线性，通常

线性优于5%能满足杂散光测量所要求的准确度。

6.3.2稳定性

在杂散光数测量的整个周期内，光电探测系统灵敏度的变化应小于2%。

6.3.3光电探测器保护窗口表面散射要求

若被测系统的杂光要考虑像面材料的表面影响,则在光电探测器测量孔周围应放置具有和待测测系统像面同样大小和反射特性的材料,以模拟像面材料表面散射的影响。在像区域之外任何部分将光线反射到物镜的反射率应小于3%。若待测系统的杂光不包括像面材料的

表面影响,光电探测器表面的反射率应小于3%。

6.4转台及相应支撑结构

转台提供被测系统方位转动，实现不同离轴角的PST测试。

6.4.1转角范围

对于对称光学系统转台保证转台要保证可实现一维转动，转角范围必须覆盖待测光机系

统的杂光规避角，转角范围建议±（0°~90°)。

6.4.2转台定位精度

转台定位精度优于0.1°。

6.4.4消光要求

转台及相应支撑结构所有外露表面进行消光处理，表面吸收率大于85%。

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6.5暗室

杂散光测试实验室内壁要求密闭整体消光处理，降低外界环境光以及内壁散射光对杂光

测试精度的影响。

6.5.1消光要求

暗室整体消光处理，顶棚和地面表面在可见光波段吸收率≥90%；侧壁表面在可见光波

段吸收率≥95%。红外波段可适当降低要求。

6.5.2洁净度、温、湿度要求

暗室采用洁净室，温度控制在18~26℃,相对湿度控