药物的杂质检查—药物特殊杂质检查（药物制剂检查课件）.pptx

药物特殊杂质检查

—利用药物和杂质在吸附或分配性质上的差异

;目录;;薄层色谱法简便、快速，灵敏度也比较高，又不需要特殊设备，在杂质检查中应用很多。常用的方法有如下几种：;适用于杂质结构不能确定，或无杂质对照品的情况。要求供试品与所检查杂质对显色剂所显颜色应相同，显色灵敏度也相同或相近。;;常用于极性较大物质的分离、分析，如地高辛中的有关杂质的检查。

纸色谱法较薄层色谱法展开时间长，斑点较扩散，不能用于强酸等腐蚀性显色剂，因而应用不如薄层色谱法广泛。;不仅分离效能高，而且可以准确地测定各组分的峰面积，在杂质检查中应用日益增多，特别是已使用高效液相色谱法测定含量的药物，可采用同一色谱条件进行杂质检查。;;计算各杂质峰面积的和占总峰面积的百分率，不能超过限度。

公式：L%=∑Ai/(∑Ai+A主）×100%

检查中应注意的问题：

溶剂峰不应计算在总峰面积内；

误差大，通常只用于粗略考查供试品中的杂质含量。

;当杂质峰面积与主成分峰面积相差悬殊时，可采用主成分自身对照法。

检查时：将供试溶液稀释成一定浓度作为对照溶液，分别取供试溶液和对照溶液进样分析，供试溶液中各杂质峰面积及其总和与对照溶液主成分峰面积进行比较，控制供试品中杂质的限量。

判断：

对照品液为供试品的稀释液，进样测得A主

供试品液进样测得∑Ai其∑Ai＜A主即为合格.

;将供试溶液稀释成与杂质限度相当浓度作为对照溶液，分别取供试溶液和对照溶液进样分析，供试液中各杂质峰面积总和与校正因子相乘后与对照溶液主成分峰面积比较，计算供试品中杂质的含量。

;配内标溶液+杂质对照溶液作为校正因子测定液，测定内标和杂质的峰高或峰面积，计算校正因子。

计算

对照品+内标：进样求校正因子

公式1：（f)=(As/Cs)/(AR/CR)

供试品+内标：进样求CX

公式2：杂质浓度CX=f×AX/(AS/CS)

;分别取供试溶液和对照溶液进样分析，测量对照溶液和供试溶液中待测成分的峰面积，按下式计算含量：

CX=CR×AX/AR

本法由于微量注射器不易精确控制进样量，应采用定量环或自动进样器进样。

;主要用于药物中挥发性的杂质检查，其检查方法与HPLC法相同。;药物特殊杂质检查

—利用药物和杂质物理性质上的差异（一）

;目录;;某些药物自身无色，但从生产中引入了有色的物质，或其分解产物有颜色，采用检查供试品溶液颜色的方法，可以控制药物中有色杂质的量。;1.药物中如存在具有特殊气味的杂质，可以由气味判断该杂质的存在。;2.对于乙醇、冰醋酸、苯酚、氟烷、浓过氧化氢溶液等挥发性药物中所含不挥发性杂质的检查，一般步骤为：先将供试品水浴加热，使药物挥发，再将残渣于105℃烘至恒重，称量。规定：称得的质量不得超过一定值。;有的药物可溶于水、有机溶剂或酸碱中，而其杂质不溶；反之，杂质可溶而药物不溶。利用药物和其杂质溶解行为的差异，可对多种药物进行杂质检查。;比旋度的数值可以用来反映药物的纯度，限定杂质的含量。因为药物和杂质的比旋度可有很大差异。;;（1）当杂质在某一波长处有最大吸收，而药物在此无吸收，可以通过控制供试品溶液在此波长处的吸光度来控制杂质的量。;（2）有的杂质紫外吸收光谱与药物的紫外吸收光谱重叠，可以通过控制供试品溶液的吸光度比值来控制杂质的量。;是通过测定药物中所含待检元素原子蒸气，吸收发自

光源的该元素特定波长光的程度，以求出药物中待检元素含量的方法。

灵敏度高，专属性强，主要用于金属元素的测定。

;红外分光光度法在杂质检查中主要用于药物中无效或低效晶型的检查。;某些物质受紫外光或可见光照射后能发射出比激发光波长长的荧光。利用物质的激发和发射光谱，对物质进行分析的方法即为荧光分析法。;药物特殊杂质检查

—利用药物和杂质在化学性质上的差异

;目录;若杂质具有酸、碱性，可采用如下方法检查。;;利用药物与杂质之间氧化还原电位的差异进行检查。;