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范围
本标准准适用于正星光电科技有限公司生产的ITO产品。
规范性引用文件
JISB0601—1994表面微观波纹度测量过程和方法的标准。
GB2828—2003计数抽样检验程序[第一部分按照接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划]。
玻璃基片的规格
长度及宽度的允许偏差、厚度允许偏差表
序号检验项目标准范围测量方法
1长度/宽度±数显游标卡尺
±
±
2厚度千分尺
0.55mm±
±
3垂直度≤%宽座角尺和塞尺
垂直度
玻璃基片的垂直度的公差等级a/L≤%（见图1，a为公差带，L为被测玻璃基片的相应边长）。
图1玻璃基片的垂直度
弯曲度（h/L)
图2玻璃基片的弯曲度，不允许S形弯曲
微观波纹度（玻璃的浮法锡面）
微观表面波纹度的数值Rt的最大值应符合表2要求
序号厚度玻璃类型弯曲度微观波纹度
非强化≤%
1≤20mm
强化≤%
非强化≤%
2≤20mm
强化≤%
非强化≤%
3≤20mm
强化≤%
非强化≤%
4033mm≤20mm
强化≤%
磨边倒角:
b切角磨边示意图
a
R型边
向
方
法d*d
浮
*45°C型边
编号项目
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