粗糙度参数解说.doc

参数解说

介绍

参数概述

外表纹理可由与一定的纹理特性相关的参数来量化。这些参数可按测量的特点类型，被分成几组类型。

它们是:

Amplitude〔幅值〕

Spacing〔间距〕

Hybrid〔混合〕

RW〔R＋W〕

Aspheric〔非球面〕

曲线及相关参数

Rk参数

影响外表粗糙度的数字评估是三个特性长度。

它们是:

取样长度，也被称为Cut-OffLength

评价长度，也被称为AssessmentLength或DataLength

横向移动长度

另外，屏幕上的帮助工具,以一个容易阅读的ExploringSurfaceTexture〔外表形貌浏览〕文本描述，其主题详细包括了什么是外表形貌及为什么必需测量它。该文本包括用FormTalysurf仪器提供通常的外表形貌背景信息和测量仪器的特殊测针类型。它也给出了参数的有用信息：它们的来历和使用。对进一步更深的外表评论及其测量，可从TaylorHobson的手册Precision2中得到。

幅值参数

这些是测量在轮廓〔Z轴〕的垂直位移。

这类参数包括:

未滤波参数滤波的粗糙度参数滤波的波纹度参数

间距参数

这些参数是沿外表〔X轴〕对不规那么间距的测量，而与不规那么的幅值无关。

这类参数包括

未滤波参数滤波的粗糙度参数滤波的波纹度参数

混合参数

指与外表不规那么的幅值参数和间距参数都有关的参数〔Z轴和X轴〕，或者规定了一个量，如面积或体积，被称作Hybrid〔混合〕参数。

这类参数包括:

未滤波参数滤波的粗糙度参数滤波的波纹度参数

曲线及相关参数

这些参数是沿外表〔X轴〕对不规那么间距的测量，而与不规那么的幅值无关。

这类参数包括：

原始轮廓

轮廓高度幅值曲线

Pc

Pmr

Pmr(c)

滤波的粗糙度

轮廓高度幅值曲线

Rc

Rmr

Rmr(c)

滤波的波纹度

轮廓高度幅值曲线

Wc

Wmr

Wmr(c)

R加W参数

这些参数与R和W参数相关，被定义在标准BSISO12085:1996里面。

这些分析包括:

Pt

R

AR

Rx

SR

SAR

SW

SAW

Wte

W

AW

Wx

非球面分析参数

这些参数与非球面形状的特殊分析有关。

这些分析包括:

Fig

Ra

Rt

Smx

Smn

Tilt

Xp

Xt

Xv

Rk参数

这些参数从来自于粗糙度测量的材料比曲线的计算而得，并提供以下的值:

核心粗糙度深度=Rk

简化的峰高度=Rpk

简化的谷高度=Rvk

这些参数被定义在BSISO13565part2:1996里面。

长度–概述

有三个与外表形貌定量评定有关的特性长度。

它们是:

取样长度，也被称为Cut-OffLength〔长度〕

评价长度也被称为Assessment〔评估〕Length或Data〔数据〕Length

移动长度

取样长度,Cut-OffLength

这是用来识别不规那么外表粗糙度特性的参考线的长度。

取样长度是用于在测量箱移动方向识别表现测量轮廓特性的长度。

粗糙度和波纹度分析的取样长度等于所选滤波器的波长。未滤波的〔原始〕轮廓的取样长度等于其评价长度。

分析长度

A=启动长度

ln=评价长度

C=结束宽余长度

l=取样长度

E=横向移动长度

F=被测外表的轮廓

评价长度,评估长度,数据长度

测量方向的移动长度包含了评价外表粗糙度参数的值，它被称为评价长度，或评估长度，或数据长度。它可以含有一个或更多的取样长度。

横向移动长度

横向移动长度是传感器沿被测外表移动的全部长度。它通常大于评价长度，这是因为必须在每一次移动的末尾留有余量，以确保机械和电气的瞬时冲击能从测量数据中剔除。

形状参考

形状参考–概述

量化粗糙度的主要需求是提供一些与测量轮廓数据相关的基准。在外表计量学里，我们不能测量大多数材料的直径〔这属直径计量的领域〕，但可测量其对理想形状〔如一个极佳的平面〕的偏差。因此，当进行测量和评价结果时，必须考虑外表的形状。它一开始就把仪器调整到与外表的独特形状相适应。然后用与代表零件理想形状〔或与实际接近的近似值〕的一个参考线〔或几条线〕来计算出测量数据。

用FormTalysurfSeries仪器评价的参考有:

最小二乘直线

最小区域直线

基准(仪器硬件参考)

?最小二乘圆弧

半径，椭圆或双曲线

非球面

最小二乘直线

最小二乘(LS)线一般被用作平均参考线。在外表形貌分析中，最小二乘的最正确直线与评价原始轮廓的测量数据相匹配。

LS线的定位使得轮廓上偏离该线的平方和为最小。它是通过轮廓数据而提供的唯一的参考线。