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参数解说
介绍
参数概述
外表纹理可由与一定的纹理特性相关的参数来量化。这些参数可按测量的特点类型,被分成几组类型。
它们是:
Amplitude〔幅值〕
Spacing〔间距〕
Hybrid〔混合〕
RW〔R+W〕
Aspheric〔非球面〕
曲线及相关参数
Rk参数
影响外表粗糙度的数字评估是三个特性长度。
它们是:
取样长度,也被称为Cut-OffLength
评价长度,也被称为AssessmentLength或DataLength
横向移动长度
另外,屏幕上的帮助工具,以一个容易阅读的ExploringSurfaceTexture〔外表形貌浏览〕文本描述,其主题详细包括了什么是外表形貌及为什么必需测量它。该文本包括用FormTalysurf仪器提供通常的外表形貌背景信息和测量仪器的特殊测针类型。它也给出了参数的有用信息:它们的来历和使用。对进一步更深的外表评论及其测量,可从TaylorHobson的手册Precision2中得到。
幅值参数
这些是测量在轮廓〔Z轴〕的垂直位移。
这类参数包括:
未滤波参数滤波的粗糙度参数滤波的波纹度参数
间距参数
这些参数是沿外表〔X轴〕对不规那么间距的测量,而与不规那么的幅值无关。
这类参数包括
未滤波参数滤波的粗糙度参数滤波的波纹度参数
混合参数
指与外表不规那么的幅值参数和间距参数都有关的参数〔Z轴和X轴〕,或者规定了一个量,如面积或体积,被称作Hybrid〔混合〕参数。
这类参数包括:
未滤波参数滤波的粗糙度参数滤波的波纹度参数
曲线及相关参数
这些参数是沿外表〔X轴〕对不规那么间距的测量,而与不规那么的幅值无关。
这类参数包括:
原始轮廓
轮廓高度幅值曲线
Pc
Pmr
Pmr(c)
滤波的粗糙度
轮廓高度幅值曲线
Rc
Rmr
Rmr(c)
滤波的波纹度
轮廓高度幅值曲线
Wc
Wmr
Wmr(c)
R加W参数
这些参数与R和W参数相关,被定义在标准BSISO12085:1996里面。
这些分析包括:
Pt
R
AR
Rx
SR
SAR
SW
SAW
Wte
W
AW
Wx
非球面分析参数
这些参数与非球面形状的特殊分析有关。
这些分析包括:
Fig
Ra
Rt
Smx
Smn
Tilt
Xp
Xt
Xv
Rk参数
这些参数从来自于粗糙度测量的材料比曲线的计算而得,并提供以下的值:
核心粗糙度深度=Rk
简化的峰高度=Rpk
简化的谷高度=Rvk
这些参数被定义在BSISO13565part2:1996里面。
长度–概述
有三个与外表形貌定量评定有关的特性长度。
它们是:
取样长度,也被称为Cut-OffLength〔长度〕
评价长度也被称为Assessment〔评估〕Length或Data〔数据〕Length
移动长度
取样长度,Cut-OffLength
这是用来识别不规那么外表粗糙度特性的参考线的长度。
取样长度是用于在测量箱移动方向识别表现测量轮廓特性的长度。
粗糙度和波纹度分析的取样长度等于所选滤波器的波长。未滤波的〔原始〕轮廓的取样长度等于其评价长度。
分析长度
A=启动长度
ln=评价长度
C=结束宽余长度
l=取样长度
E=横向移动长度
F=被测外表的轮廓
评价长度,评估长度,数据长度
测量方向的移动长度包含了评价外表粗糙度参数的值,它被称为评价长度,或评估长度,或数据长度。它可以含有一个或更多的取样长度。
横向移动长度
横向移动长度是传感器沿被测外表移动的全部长度。它通常大于评价长度,这是因为必须在每一次移动的末尾留有余量,以确保机械和电气的瞬时冲击能从测量数据中剔除。
形状参考
形状参考–概述
量化粗糙度的主要需求是提供一些与测量轮廓数据相关的基准。在外表计量学里,我们不能测量大多数材料的直径〔这属直径计量的领域〕,但可测量其对理想形状〔如一个极佳的平面〕的偏差。因此,当进行测量和评价结果时,必须考虑外表的形状。它一开始就把仪器调整到与外表的独特形状相适应。然后用与代表零件理想形状〔或与实际接近的近似值〕的一个参考线〔或几条线〕来计算出测量数据。
用FormTalysurfSeries仪器评价的参考有:
最小二乘直线
最小区域直线
基准(仪器硬件参考)
?最小二乘圆弧
半径,椭圆或双曲线
非球面
最小二乘直线
最小二乘(LS)线一般被用作平均参考线。在外表形貌分析中,最小二乘的最正确直线与评价原始轮廓的测量数据相匹配。
LS线的定位使得轮廓上偏离该线的平方和为最小。它是通过轮廓数据而提供的唯一的参考线。
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