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光电式垂线坐标仪校准规范
范围
本规范适用于大坝及其他岩土工程安全监测中应用垂线方法测量位移的光电式CCD垂线坐标仪的校准,其他型式的垂线坐标仪可参考本规范进行校准。
引用文献
本规范引用以下文献:
JJF1059测量不确定度评定与表示
DLT1061光电式CCD垂线坐标仪
凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本规范;凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本规范。
概述
光电式垂线坐标仪(以下简称“坐标仪”)是采用CCD器件实现的一种非接触式自动化位移测量设备,能够测量垂线在平面内X、Y两方向的位移,在两个方向上的测量原理相同,测量电路相互独立、互不干扰。当一束光照向垂线及CCD时,垂线在CCD上产生一个投影,CCD的像元将光强转换成电荷量存储。CCD驱动器产生相应逻辑时序将电荷信息移出,移出信号经过整形处理后,得到垂线的准确位置坐标,结果经通信接口发送到监测计算机或其他外接设备,原理框图见图1。
计量特性
分辨力
坐标仪传感器在规定测量范围内分辨力一般不大于0.02mm或生产厂家的规定。
示值误差
对于测量范围不大于50mm的坐标仪,最大允许误差不超过±0.5%FS;对于测量范围大于50mm的坐标仪,最大允许误差不超过±0.3%FS;或生产厂家的规定。
重复性
示值重复性不超过0.1%FS,或生厂家的规定。
稳定性
在正常试验条件下坐标仪连续工作2h,其显示值无趋势性变化,且显示值最大变化量不大于0.4%FS或生产厂家的规定。
环境条件
校准温度:(25±10)℃;湿度:(25~75)%RH。
校准用标准器及其他设备
校准项目及校准用设备见表1。
表1测量标准技术参数及用途表
序号
校准项目
校准用标准器及其它设备
计量性能
1
分辨力
千分表
MPE:±0.005mm
2
示值误差
大量程百分表或数显卡尺、专用标定设备
大量程百分表MPE:±0.03mm
数显卡尺MPE:±0.03mm
装载测量标准,不易变形
3
重复性
4
稳定性
注:允许采用满足测量不确定度要求的其它测量设备。
校准项目和校准方法
外观检查及其他
外观检查
坐标仪外型应完好,表面不应有明显的凹迹、外伤、裂缝、变形等现象、表面涂层不应起泡、龟裂和脱落,显示仪表自检显示正常,面板按钮阻尼、按键响应正常,金属件不应有严重锈蚀及其他机械损伤,所有紧固件均应装配牢固,不得松动脱落。
其他检查
如坐标仪具备数据通讯功能,则进行通讯检查,即坐标仪与计算机连接通讯能正常响应。
分辨力
在正常试验条件下,将坐标仪安放在专用标定设备上,保证坐标仪的X或Y方向与标定设备给出的位移方向一致,分别选取约(0+2mm)、L/2、(L-2mm)(L为坐标仪满量程值)三个位置进行试验。
每个位置上,先由千分表按4.1规定的分辨力最大值为步长缓慢移动垂线给出位移,然后用坐标仪测量,记录测量结果,如此连续往同方向共进行5次。坐标仪在3个位置处测量结果的变化趋势都是单调的,则坐标仪的分辨力满足4.1的要求。
示值误差
在正常试验条件下,将坐标仪安放在专用标定设备上,垂线位移由百分表或数显卡尺给出。将坐标仪的测量范围平均分成4~10档,从零位开始逐档进给位移至满量程(上行),记录每档测得的结果,再依次返至零位(下行)同样记录每档测得结果,如此共进行3次循环。按下列方法计算其示值误差δ1
δ1
式中:
Xi
Ci
L ——坐标仪满量程值,单位为毫米(mm);
i ——测点序数,i=0,1,2,3,…,n。
试验结果应满足4.3的要求。
重复性
重复性试验与6.4同时进行,计算公式如下:
δ2
式中:
?max ——3次循环中各测试点上行及下行的各自3个测值之间的差值取最大值,单位为毫米(mm)
试验结果应满足4.4的要求。
稳定性
在正常试验条件下测量,将垂线用专用夹具固定在坐标仪约1/2量程处,设定定时自动测量,定时间隔为15min,历时2h,分别绘X、Y方向测值过程线,计算X、Y方向测值最大变化量δd
δd
式中:
Amax
Amin
试验结果应满足4.5的要求。
校准结果
经过校准的坐标仪出具校准证书。校准证书应给出校准结果及其测量不确定度。
复校时间间隔
复校时间间隔的长短是由仪器的使用情况、仪器本身质量等诸因素所决定的,送校单位可根据实际使用情况自主决定复校时间间隔,建议不超过1年。
附录A
测量结果不确定度评估示例
A.1测量方法
依据本规范,用数显卡尺和专用标定夹具进行校准,以仪器的示值与数显卡尺的差值即为示值误差。下面对分辨力为0.01mm的光电式垂线坐标仪在25mm处进行测量不确定度评定。
A.2测量模型
因为垂线坐标仪示值误差计算公式为:
δ
式中误差计算基于标准器和垂线坐标仪的
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