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《电工电子技术与应用》主题9 常用半导体器件练习册答案 .pdfVIP

《电工电子技术与应用》主题9 常用半导体器件练习册答案 .pdf

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主题9常用半导体器件

课题1二极管

一.判断题

1.×2.√3.√4.×5.√6.√7.×8.√

二.选择题

1.D2.A3.B4.B5.D

三.填空题

1.正负

2.单向导电性正向导通反向截止

3.0.3V0.7V,

4.0∞

5.反向击穿现象

6.锗管硅管

四.问答题

用万用表的欧姆挡,对于小功率管一般选用“R×100Ω”挡或“R×1kΩ”挡,测量出二

极管的两次电阻值,电阻值小的那一次为二极管的正向电阻,此时黑表笔(接“-”极)所

接的就是的正极。如果两次测量的阻值都很小,说明二极管已经击穿;如果两次测量的阻值

都很大,说明二极管内部已经断路。

五.分析计算题

1.解:二极管因正向电阻太小,导致正向电流过大,会烧毁二极管。

1.5V0.7V

I8mA

100

2.解:当UI=+3V时,V截止,U0=+3V;

当UI=-3V时,V导通,U0=-0.7V;

当UI=0V时,V截止,U0=0

3.U1=U2,I1>I2



06V

I30mA

4.V1导通,V2截止,200。

课题2三极管

一.判断

1.×2.×3.×4.√5.×6.×

二.选择

1.C2.C3.D4.B5.D6.C7.B8.C9.B10.C11.D12.B

三.填空

1.薄低高大低

2.基集电发射bce

3.基极集电极4.放大饱和截止

5.放大饱和截止6.增大好7.基极集电极发射极降低

8.下降β下降击穿损坏9.>><<10.放大截止饱和

四.问答

1.不可以对调使用,因为集电区和发射区的掺杂浓度不一样。

2.上面说法不完全对,当ICICM时,将引起β值下降,管子不会坏;当UCEU(BR)CEO时,

将引起管子击穿,在短时间下管子不会坏;当PCPCM时,将引起管子烧坏。

3.管子工作于放大状态可以确定β值,管子工作于饱和状态不能确定β值。

五.分析计算

1.解:(1)I=4mA+50μA=4.05mA电流方向向下。

(2)NPN型

(3)1为基极,2为集电极,3为发射极。

4mA

80

50A

(4)。

2.解:(1)能安全工作,因为ICICM.UCEU(BR)CEO,PCPCM。

(2)不能安全工作,因为PCPCM。

(3)不能安全工作,ICICMPCPCM

(4)不能安全工作,UCEU(BR)CEO。

I3.4mA2.4mA

C

100



I30A20A

3.解:B,



IIIIII2.4mA10020A0.4mA

CBCEOCEOCB

I0.4mA

CEO

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