计算机控制技术实验报告2.pdf

中南大学

计算机控制技术实验报告

信息院专业班组

姓名学号指导老师

实验日期2013年月日

实验名称温度闭环控制系统的设计和实现

一、实验目的

1．了解温度闭环控制系统的构成。

2．掌握PID控制规律，并且用算法实现。

二、实验仪器设备

PC机一台，TD-ACC实验系统一套，i386EX系统板一块，烤箱一台(选件)

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三、实验内容、实验电路、实验步骤及数据处理

1.实验原理

温度闭环控制系统实验的系统方框图如下：

根据上述系统方框图，硬件线路图设计如下，图中画“○”的线需用户在实验中自行接好。

上图中，控制机算机的“DOUT0”表示386EX的I/O管脚P1.4，输出PWM脉冲经驱

动后控制烤箱或温度单元，“OUT1”表示386EX内部1＃定时器的输出端，定时器输出的

方波周期＝定时器时常，“IRQ7”表示386EX内部主片8259的7号中断(采样中断)。

实验中，使用了10K热敏电阻作为测温元件，温度变化，电阻值变换，经转换电路变

换成电压信号，由模数转换器进行转换，转换完成产生采样中断，在中断程序中读取数字

量，构成反馈量，在参数给定的情况下，经PID运算产生相应的控制量，最后由系统的

“DOUT0”端输出PWM脉冲信号，经驱动电路驱动烤箱(温度范围室温～200℃)或温度

单元(温度范围室温～70℃)加热或关断，使温度稳定在给定值。其中系统定时器定时

10ms，一方面作为A/D的定时启动信号，另一方面作为系统的采样基准时钟。

温度闭环控制系统实验的参考程序流程图如下：

2.实验步骤

1．按流程图6.2-3、4、5编写程序，再编译，链接。参考程序名称为：ACC6-2-1.ASM。

2．按图6.2-2接线，检查无误后开启设备电源。

3．装载程序，打开专用图形界面，运行程序并观察波形，分析其响应特性。

4．若不满意，改变参数积分分离值IBAND、比h例系数KPP、积分系数KII、微分系

数KDD的值后再观察其响应特性，选择一组较好的控制参数并记录下来。

5．注意：在程序调试过程中，有可能随时停止程序运行，此时DOUT0的状态应保持

上次的状态。当DOUT0为1时，烤箱或温度单元将停止加热；当DOUT0为0时，烤箱

或温度单元将满功率加热，如果长时间让烤箱或温度单元处于全功率加热状态，可能会导

致烤箱或温度单元损坏，所以在停止程序运行时，最好将连接DOUT0的排线拔掉或按系

统复位键。

实验程序参数表

符号单位取值范围名称及作用

TS10mS00H～FFH采样周期:决定数据采集处理快慢程度

SPEC℃14H～FAH给定:即要求烤箱达到的温度值

IBAND0000H～007FH积分分离值：PID算法中积分分离值

KPP1/4096倍0000H～1FFFH比例系数：PID算法中比例项系数值

KII10mS0001H～1FFFH积分系数：PID算法中积分项系数值

KDD10mS0000H～1FFFH微分系数：PID算法中微分项系数值

CH100H～FFH