电子技术基础实验指导教程 教案 8.2CMOS集成门电路的逻辑功能与参数测试.doc

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专业：科目：电子技术基础实验指导授课人：

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课题

8.2CMOS集成门电路的逻辑功能与参数测试

教学目的

1．掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。

2．学会CMOS集成门电路主要参数的测试方法。

主要教学

内容

1．CMOS与非门CC4011参数测试（方法与TTL电路相同）。

（1）测试CC4011一个门的、、、。

（2）测试CC4011一个门的传输特性（一个输入端作为信号输入，另一个输入端接逻辑高电平）。

（3）将CC4011的三个门串接成振荡器，用双踪示波器观测输入、输出波形，并计算tPd值。

2．验证CMOS各门电路的逻辑功能，判断其好坏。

验证与非门CC4011、与门CC4081、或门CC4071及或非门CC4001的逻辑功能。以CC4011为例：测试时，选好某一个14P插座，插入被测器件，其输入端A、B接逻辑电平开关的输出插口，其输出端Y接至逻辑电平显示器的输入插口，拨动逻辑电平开关，逐个测试各门的逻辑功能，并记入表8-5。

表8-5门电路的逻辑功能真值表

输入

输出

A

B

0

0

0

1

1

0

1

1

3．观察与非门、与门、或非门对脉冲的控制作用。

将与非门按图8-7（a）、（b）接线，将一个输入端接连续脉冲源（频率为20kHz），用双踪示波器观察两种电路的输出波形，并记录。然后测定与门和或非门对脉冲的控制作用。

图8-7与非门对脉冲的控制作用

教学方法

实验教学

教具

数字电子实验台

作业

1．整理实验结果，用坐标纸画出传输特性曲线。

2．根据实验结果，写出各门电路的逻辑表达式，并判断被测电路的功能好坏。

所用教材

《电子技术基础实验指导教程》电子工业出版社

备注