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技术方案
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芯片测试大百科
目录
序言04
芯片简史05
典型产业链概述06
5G基础设施市场06
光通信及光模块市场08
5G+终端及芯片市场09
模拟芯片（AnalogIC）测试11
技术概览11
PA功放芯片11
LNA低噪放芯片12
ADC/DAC芯片13
1.ADC/DAC参数测试13
2.ADC/DAC性能验证15
PLL/VCO芯片17
DC-DC/PMU电源管理芯片...17
1.输出阻抗测试17
2.DC-DC电源环路增益测试17
3.PI(PowerIntegrity)，电源完整性18
射频功能芯片19
Wifi芯片19
UWB芯片19
Bluetooth蓝牙芯片21
MMIC微波单片22
DigitalIC数字芯片23
Memory存储芯片23
DDR行业发展及技术概述23
DDR测试方案23
DDR测试总结25
UFS行业发展及技术概述25
UFS测试方案26
UFS测试方案总结27
联系我们：页02
显示技术27
HDMI行业发展及技术概述27
HDMI测试方案27
DisplayPort行业发展及技术概述29
DisplayPort测试方案29
高速I/O芯片及互联技术31
USB31
Thunderbolt33
PCIe36
SATA38
SerDes39
以太网41
汽车以太网44
MIPID/C/M/A45
光电子芯片52
晶圆/芯片级测试方案52
模块/应用级测试方案53
相干光通信光器件测试方案54
芯片仿真与模拟54
半导体硅材料的模型解决方案54
III-V半导体模型的专家-ICCAP56
MMIC仿真、验证与分析58
SerDes仿真、验证与分析60
DDR仿真、验证与分析61
功率芯片及器件63
功率器件静态参数测试63
功率器件动态参数测试64
功率器件On-Wafer参数测试65
功率器件产线测试...65
电力电子设计与仿真66
晶圆厂测试67
封装厂测试70
是德科技工程教育中心及IC测量技术培训73
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