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2;;4;;;;;;;;;13;14;15;16;;;19;20;21;;23;24;?公司自成立以来,持续深耕于新型显示器件检测设备领域。设立初期,公司主要进行新型显示器件触控检测设备的研发、生产与销售,主要产品应用于显示器件触控模组的Sensor检测与线性检测;2015年以来,公司紧随新型显示器件行业的发展方向,将业务逐渐扩展到新型显示器件的光学检测及校正修复、老化、信号发生等领域,形成了新型显示器件的Cell制程与Module制程的光学检测及校正修复系统、老化系统、触控检测系统、信号发生器及检测系统配件等拥有自主知识产权的丰富产品线,为新型显示器件行业客户提供检测整体解决方案,与下游主要厂商建立了稳定的合作关系,积累了丰富的量产经验,实现了Cell光学检测设备、Cell老化设备等多种关键检测设备的国产化替代。;;27;28;29;30;31;;;公司在不断做大做强新型显示器件检测设备业务的同时,将检测设备的应用领域向半导体行业进行延伸。2020年以来,公司设立精智达集成电路培养半导体测试设备研发及生产团队,与韩国半导体存储器件测试设备企业UniTest成立合资公司精智达半导体,并参股投资冠中集创等,为半导体存储器件行业客户提供测试设备及解决方案,具体业务模式主要包括:(1)根据下游客户需求主导方案定型与机型选择,在向Unitest或其他供应商采购相关产品的基础上,向下游客户提供设备组装及安装调试、测试治具配套、测试程式开发、产品测试验证等技术支持及售后服务,交付本地化测试系统解决方案;(2)与UniTest合作开展DRAM晶圆老化测试设备产品的研发及DRAM老化修复设备产品的本地化生产;(3)独立开展探针卡、DRAMFT测试机等产品的研发。

公司的半导体存储器件测试解决方案主要用于在DRAM等半导体存储器件的晶圆制造环节对晶圆上的裸片进行电参数性能和功能测试以及修复,或在封装测试环节对芯片颗粒进行电参数性能和功能测试、老化以及修复,以保证出厂的芯片性能和功能指标达到设计规范要求。公司的半导体存储器件测试解决方案主要

包括存储器晶圆测试系统、存储器老化修复系统、存储器封装测试系统及其他测试配件等,具体情况如下:;;;37;38;;;;42

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