【英语版】国际标准 ISO/TS 23361:2024 EN 纳米技术——纤维素纳米材料粉末X射线衍射（Rietveld分析）的结晶度 Nanotechnologies — Crystallinity of cellulose nanomaterials by powder X-ray diffraction (Rietveld analysis).pdf

ISO/TS23361:2024ENNanotechnologies—纤维素纳米材料结晶度的粉末X射线衍射分析（Rietveld分析）标准详细解释如下：

ISO/TS23361是一个关于纳米技术领域的国际标准，专门用于评估纤维素纳米材料的结晶度。这个标准提供了使用粉末X射线衍射（XRD）技术测定纤维素纳米材料结晶度的方法，并通过Rietveld分析进行详细的分析。

X射线衍射是一种利用X射线在物质中的衍射效应来研究物质结构的技术。在纤维素纳米材料的情况下，XRD图谱可以提供材料晶体结构的信息，特别是结晶部分。通过分析XRD图谱，可以确定材料的结晶度，即材料中结晶部分的百分比。

Rietveld分析是一种用于XRD数据解析的计算机程序，它可以用于确定材料的晶体结构，特别是当存在多个可能的解时。Rietveld分析通过消除数据中的噪声和背景，提高了结果的精度和可靠性。

通过ISO/TS23361标准的指导，研究人员和制造商可以更准确地评估纤维素纳米材料的结晶度，从而了解其性能和潜在的应用。这个标准对于纳米材料科学和相关领域的研究和开发具有重要的参考价值。