SPC培训教材968767学习课件.pptxVIP

统计过程控制;王茂先生

确利达顾问有限公司

----高级顾问

IRCA EMS注册主任审核员

CNABQMS注册审核员

注册管理咨询顾问;质量管理发展历程;什么是统计学？

《中国大百科全书》:统计学是一门社会科学

《大英百科全书》:统计学是根据数据进行推断的艺术和科学

令人遗憾的中国统计学科

统计学具有阶级性吗？;我们为什么实施SPC?;变差是什么？;各种流程中变异无处不在

质量特性的直方图表示;变差的起源……;不理睬……;正态分布篇;基本统计术语;样本

样本是总体的一个子集,是从总体中抽取的能代表母体特征的一部份,对样本进行测量后得到的样本数据,用n表示;基本统计术语;基本统计术语;标准差

是方差的正平方根,表示了一组数据的分散程度。

总体标准差用σ表示

样本标准差用S表示;作用

;∑;∑;;;S;练习

给定样本：10,16,18,20,27,15,14,8.求样本标准差

;R=X-X;练习

给定样本：10,16,18,20,27,15,14,8.求极差

;当你测量了一定数量的产品后，就会形成一条

曲线，这便是质量特性X的分布：;什么是正态分布?;;;规格范围合格概率缺陷概率

+/-168.27%31.73%

+/-295.45%4.55%

+/-399.73%0.27%

+/-499.994%0.0063%

+/-599.99994%0.000057%

+/-699.9999998%0.000000198%;如何计算正态分布和“工序西格玛Z”?;USL-μ;LSL-μ;从上述公式可看出,工序西格玛值是平均值与规格上下限之间包括的标准差的数量,表示如下图:;通过计算出的Z值,查正态分布表,即得到对应的缺陷概率.;;正态分布的位置与形状与过程能力的关系图;;分布位置及形状均不理想

;;;控制图制作篇;贝尔实验室的Walter休哈特博士在二十世纪二十年代研究过程时,发明了一个简单有力的工具,那就是控制图,其方法为:;控制图-控制过程的工具;控制图的分类;计量型控制图;计量型控制图;;计数型控制图;计数型控制图的计算公式;X;;?

日期

;制作的准备;制作均值极差图;;;;R;计算均值图??制限;计算极差图控制限;X-R图常数表

;将计算结果绘于;;练习;分析控制图;;;X图上的数据点超出上下控制界限的可能原因：

控制界限计算错误

描点错误

测量系统发生变化

过程发生变化

;UpperControl

Limit(UCL);UpperControl

Limit(UCL);;;;UpperControl

Limit(UCL);UpperControl

Limit(UCL);控制界限计算错误

描点错误

测量系统发生变化

过程发生变化

过程均值发生变化

抽样数据来自完全不同的两个整体;R图;控制界限计算错误

描点错误

测量系统发生变化

测量系统分辩率不够

过程发生变化;R图;R图;R图;R图;R图;R图;R图;描点错误

测量系统发生变化

质量特性分布发生变化

过程发生变化过程均值发生变化

抽样数据来自完全不同的两个整体;X–MRChart;收集数据

进行测量系统分析

确定子组容量（X-MR图的子组容量为1）

确定子组频率

确定子组数（X-MR图需子组数达100个以上，这样可以全面判断过程的稳定性）;;计算MR值;将X和计算出的MR值分别绘在X图上和MR图上;;计算移动极差均值;计算单值图控制限;计算极差图控制限;X-MR图常数表

;练习;控制界限的更换篇;控制界限建立以后并非一成不变，因为过程永远是处于波动的，因此控制界限需定期检讨，以判断是否需要更换控制界限，检讨控制界限的周期，应根据过程变化而定。;过程流程发生变化时：;使用新的设备：;现有过程发生失控，经过改善过程