射线衍射方法的实际应用课件.pptVIP

X射線應力測定金屬材料及其製品在冷、熱加工（如切削、裝配、冷拉、冷軋、噴丸、鑄造、鍛造、熱處理、電鍍等）過程中，常常產生殘餘應力。殘餘應力對製品的疲勞強度、抗應力腐蝕疲勞、尺寸穩定性和使用壽命有著直接的影響。研究和測定材料中的宏觀殘餘應力有巨大的實際意義，例如可以通過應力測定檢查消除應力的各種工藝的效果；可以通過應力測定間接檢查一些表面處理的效果；可以預測零件疲勞強度的貯備等等。因此研究和測定材料中的宏觀殘餘應力在評價材料強度、控制加工工藝、檢驗產品品質、分析破壞事故等方面是有力的手段殘餘應力殘餘應力是材料及其製品內部存在的一種內應力，是指產生應力的各種因素不存在時，由於不均勻的塑性變形和不均勻的相變的影響，在物體內部依然存在並自身保持平衡的應力。通常殘餘應力可分為宏觀應力、微觀應力和點陣靜畸變應力三種，分別稱為第一類應力、第二類應力和第三類應力。X射線應力測定測定殘餘應力的方法有電阻應變片法、機械引伸儀法、小孔鬆弛法、超聲波、光彈性複膜法和X射線法等。但是用X射線測定殘餘應力有以下優點：1.X射線法測定表面殘餘應力為非破壞性試驗方法。2.塑性變形時晶面間距並不變化，也就不會使衍射線位移，因此，X射線法測定的是純彈性應變。用其他方法測得的應變，實際上是彈性應變和塑性應變之和，兩者無法分辨。3.X射線法可以測定1~2mm以內的很小範圍內的應變，而其他方法測定的應變，通常為20~30mm範圍內的平均。4.X射線法測定的是試樣表層大約10μm深度內的二維應力。採用剝層的辦法，可以測定應力沿層深的分佈。5.可以測量材料中的三類應力。X射線法的不足之處X射線法也有許多不足之處：測試設備費用昂貴；受穿透深度所限，只能無破壞地測表面應力，若測深層應力，也需破壞試樣；當被測工件不能給出明銳的衍射線時，測量精確度不高。能給出明銳衍射峰的試樣，其測量誤差約為±2×107Pa(±2kgf/mm2)；試樣晶粒尺寸太大或太小時，測量精度不高；大型零件不能測試；運動狀態中的暫態應力測試也有困難。X射線殘餘應力測定原理在諸多測定殘餘應力的方法中，除超聲波法外，其他方法的共同點都是測定應力作用下產生的應變，再按虎克定律計算應力。X射線殘餘應力測定方法也是一種間接方法，它是根據衍射線條的θ角變化或衍射條形狀或強度的變化來測定材料表層微小區域的應力。殘餘應力分類當殘餘應力在整個工件範圍或相當大的範圍內達到平衡時，稱宏觀殘餘應力或第一類應力。這使θ角發生變化，從而使衍射線位移。測定衍射線位移，可求出宏觀殘餘應力殘餘應力在一個或幾個晶粒範圍內平衡時，稱微觀應力或第二類應力。有微觀應力存在時，各晶粒的同一{HKL}面族的面間距將分佈在d1~d2範圍內，衍射譜線變寬，根據衍射線形的變化，就能測定微觀應力。殘餘應力在一個晶粒內上百個或幾千個原子之間達到平衡時，稱點陣靜畸變應力或第三類應力。這導致衍射線強度降低。根據衍射線的強度下降，可以測定第三類應力。單軸應力測定原理在理想的多晶體材料中，晶粒大小適中均勻，取向任意。當無應力作用時各個晶粒同一（HKL）晶面的間距不變，為d0。當受到應力作用時，各個晶面間距因其與應力軸的夾角和應力大小而變化。上述分析可見，在應力σy作用下與試樣表面垂直的晶面間距do擴張為dn。若能測得該晶面間距的擴張量Δd=dn-do，則應變εy=Δd/do，根據彈性力學原理，應力為：σy=Eεy=EΔd/do單軸應力測定原理似乎問題可以解決。但從試驗技術講，X射線殘餘應力測定尚無法測得這個方位上的晶面間距變化。但由材料力學可知，從z方向和x方向的變化可以間接推算y方向的應變。對於均勻物質有εx=εz=-νεy4-18ν為材料的泊松比。對於多晶體試樣，總有若干個晶粒中的(hkl)晶面與表面平行，晶面法線為N，在應力σy作用下，這一晶面間距的變化（縮小）是可測的，如晶面間距在應力作用下變為dn，則z方向反射面的晶面間距變化Δd=dn-do，則εz=（dn-do）/do4-19單軸應力測定原理將（4-19）、（4-18）代入（4-17）可以算得σy。通過這種方法我們可以測定y方向的應力。Z方向的晶面間距的變化可以通過測量衍射線條位移Δθ獲得。平面應力測定原理一般情況下，材料的應力狀態並非是單軸應力那麼簡單，在其內部單元體通常處於三軸應力狀態。由於X射線只能照射深度10-30μm左右的表層，所以X射線法測定的是表面二維的平面應力。根據彈性力學，在一個受力的物體內可以任選一個單元體，應力在單元體的各個方向上可以分解為正應力和切應力。平面應