结晶度测试方法及研究意义.docVIP

高分子结晶度的分析方法研究进展

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摘要：综述聚合物结晶度的测定方法，包括：差示扫描量热法；广角X衍射法；密度法；红外光谱法；反气相色谱法等，并对不同方法测定结晶度进行分析比较,同时对结晶度现代分析技术的发展作出展望。

关键词：结晶度；测试方法；分析比较

引言

高分子材料是以聚合物为主体的多组分复杂体系,由于具有很好的弹性、塑性及一定的强度，因此有多种加工形式及稳定的使用性能。由于聚合物自身结构的千变万化,带来了性能上的千差万别，正是这一特点,使得高分子材料应用十分广泛，已成为当今相当重要的一类新型材料[1]。

结晶度是表征聚合物性质的重要参数，聚合物的一些物理性能和机械性能与其有着密切的关系。结晶度愈大，尺寸稳定性愈好，其强度、硬度、刚度愈高；同时耐热性和耐化学性也愈好，但与链运动有关的性能如弹性、断裂伸长、抗冲击强度、溶胀度等降低。因而高分子材料结晶度的准确测定和描述对认识这种材料是很关键的。所以有必要对各种测试结晶度的方法做一总结和对比[2]。

1.结晶度定义

结晶度是高聚物中晶区部分所占的质量分数或体积分数.

式中:W———高聚物样品的总质量;

Wc———高聚物样品结晶部分的质量

结晶度的概念虽然沿用了很久，但是由于高聚物的晶区与非晶区的界限不明确，有时会有很大出入。下表给出了用不同方法测得的结晶度数据，可以看到，不同方法得到的数据的差别超过测量的误差。因此，指出某种聚合物的结晶度时，通常必须具体说明测量方法。

表1.1用不同方法测得的结晶度比较

结晶度（%）

方法

纤维素（棉花）

未拉伸涤纶

拉伸过的涤纶

低压聚乙烯

高压聚乙烯

密度法

60

20

20

77

55

X射线衍射法

80

29

2

78

57

红外光谱法

--

61

59

76

53

水解法

93

--

--

--

--

甲酰化法

87

--

--

--

--

氘交换法

56

--

--

--

--

2.2广角X衍射法

2.2.1测试原理

样品是由两个明显不同的相构成,由于晶区的电子密度大于非晶区,相应地产生晶区衍射峰和非晶区弥散峰,通过分峰处理后,计算晶区衍射峰的强度占所有峰总强度的份数即为试样的结晶度，有时为了简化,也可直接用各峰的面积进行结晶度计算而不需对其进行校正。

2.2.2测试方法

采用图解分峰进行结晶度计算。计算公式如下:

式中，为射线衍射法测定的结晶度%；为结晶衍射峰强度；为非结晶弥散峰强度。

实验采用波长与聚合物晶格尺寸相近的靶，再进行计算机分峰的数据处理，衍射数据经过空气散射校正,极化因子校正，使用归一化因子归一化为电子单位，然后进行康普顶校正,数据校正工作由计算机处理。将校正后的衍射数据送入计算机进行分峰处理，计算机自动打印出分峰的结果,即给出结晶度等值。

2.2.3WAXD测定聚乙烯薄膜

一般结晶性高聚物样品的X射线衍射谱中,在衍射曲线上既有尖锐峰又有比较平的弥散峰,说明不是100%结晶.用衍射线的线图作结晶度的定量计算.图2.2.3是聚合物代表聚乙烯薄膜的X射线衍射图.结晶度的计算如下式,各衍射峰的校正系数通过有关参考资料查得[4,5]。

式中:Ic—结晶峰强度;

Ia—非结晶峰强度;

Sa—非结晶峰面积;

S110,S200—结晶峰面积;

K1,K2,K3—衍射峰较正系数

图2.2.3PEX2射线衍射图

2.2.4测试方法优缺点

由于某些结晶衍射峰会由于弥散而部分重叠在一起，结晶峰与非晶峰的边缘也是完全重合或大部分重合的，结晶衍射峰和无定形弥散散射峰分离的困难,虽然应用电子计算机分离高聚物衍射图形已经尝试,使精确度大为提高，但作为常规测试方法，仍有它的局限性，因此误差较大,结晶度的绝对值并非真正具有绝对的意义。

衍射法不仅可以测定结晶部分和非结晶部分的定量比，还可以测定晶体大小、形状和晶胞尺寸，是一种被广泛用来研究晶胞结构和结晶度的测试方法[6]。

2.3密度法

2.3.1测试原理

密度法测定高聚物结晶度的依据是:高分子链在晶区中呈有序密堆砌，因而其密度高于无序非晶区的密度，并假设试样的结晶度可按两相密度的线性加和求得。用该方法测定的结晶度(Xcg)可根据下式计算:

式中和分别为试样、完全晶态及完全非晶态的密度。

2.3.2测试方法

采用固体自动比重计测试，试样经真空干燥、称量后，在N2气氛中测试，用前面所述方法即可求出密度法所得的结晶度。

或采用密度梯度法结晶度测试，将样品切成面积约为2～3mm2的小块，用轻液润湿后,放入梯度管内，在恒温一小时后,用测高仪观测，每隔15min观察一次,前后两火