线性定常系统的串联校正实验指导.pdfVIP

实验线性定常系统的串联校正

一、实验目的

1．熟悉串联校正装置的结构和特性；

2．掌握串联校正装置的设计方法和系统的实时调试技术。

二、实验设备

同实验一

三、实验内容

1．观测未加校正装置时系统的动、静态性能。

2．按动态性能的要求，分别用时域法或频域法（期望特性）设计串联校正装置。

3．观测引入校正装置后系统的动、静态性能，并予以实时调试，使之动、静态性能均

满足设计要求。

4．利用上位机软件，分别对校正前和校正后的系统进行仿真，并与上述模拟系统实验

的结果相比较。

四、实验原理

下图是一串联校正系统的方块图：

图中校正装置G（S）与实验电路G（S）是串联相连接。串联校正装置有两种：一种

c0

是超前校正，它是利用超前校正装置的相位超前特性来改善系统的动态性能；另一种是滞后

校正，它是利用滞后校正装置的高频幅值衰减特性，使系统在满足静态性能的前提下又能满

足其动态性能的要求。本实验采用串联超前校正，使校正后的系统同时能满足动态和稳态性

能的要求。

有关串联校正装置的设计和实验系统的模拟电路，请参看附录。

五、实验步骤

1．利用实验台上的各通用单元，组建所设计二阶闭环系统的模拟电路图（参考本实验

附录中的图5-1），并连接好实验电路；当检查接线无误后，接通实验台的电源总开关，并

开启±5V，±15V直流稳压电源。

2．把采集卡接口单元的输出端DA1、输入端AD2与电路的输入端相连，电路的输出

端则与采集卡接口单元中的输入端AD1相连。连接好采集卡接口单元与PC上位机的通信

线。待接线完成并检查无误后，在PC机上启动“THBDC-1”软件。在系统的输入端输入一

阶跃信号，观测该系统的稳定性和动态性能指标。具体步骤参考实验一的步骤2。

3．参阅本实验的附录，按对系统性能指标的要求设计串联校正装置的传递函数和相应

的模拟电路。

4．利用实验平台，根据步骤3设计校正装置的模拟电路(具体可参考本实验附录的图

5-3)，并把校正装置串接到步骤1所设计的二阶闭环系统的模拟电路中（图5-4）。然后输入

一阶跃信号，观测该系统的稳定性和动态性能指标。

5．改变串联校正装置的相关参数，使系统的性能指标均满足预定的设计要求。

6．利用上位机软件提供的软件仿真功能，完成线性系统串联校正的软件仿真研究，并

对电路模拟与软件仿真结果进行相比较。利用上位机软件提供的软件仿真功能完成线性系统

软件仿真的具体操作方法请参阅“实验一”中的实验步骤4。

7．根据实验时存储的波形完成实验报告。

六、实验报告要求

1．根据对系统性能的要求，设计系统的串联校正装置，并画出它的电路图。

2．根据实验结果，画出校正前系统的阶跃响应曲线及相应的动态性能指标。

3．观测引入校正装置后系统的阶跃响应曲线，并对实验所得的性能指标与理论计算值

作比较。

4．实时调整校正装置的相关参数，使系统的动、静态性能均满足设计要求，并分析相

应参数的改变对系统性能的影响。

七、实验思考题

1．加入超前校正装置后，为什么系统的瞬态响应会变快？

2．什么是超前校正装置和滞后校正装置，它们各利用校正装置的什么特性对系统进行

校正？

3．实验时所获得的性能指标为何与设计时确定的性能指标有偏差？

八、附录

1．时域校正法

加校正前系统的方框图和模拟电路分别如图5-1和图5-2所示。

图5-1二阶闭环系统的方框图

图5-2二阶闭环系统的模拟电路图

实验台上的参考单元：U6、U7、U10、U5

设计要求：K=251/s，M0.2，t1s

vps

校正前系统的开环传递函数为

525

G(S)

0

0.2S(0.5S1)S(0.5S1)

对应的闭环传递函数为

G(S)502

