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集成电路设计中的时钟干扰分析与优化考核试卷.docx

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    集成电路设计中的时钟干扰分析与优化考核试卷

    考生姓名：答题日期：得分：判卷人：

    本次考核旨在对考生在集成电路设计中时钟干扰分析与优化方面的知识和技能进行评估，包括对时钟干扰的产生原因、影响、检测方法以及优化策略的理解和应用。

    一、单项选择题（本题共30小题，每小题0.5分，共15分，在每小题给出的四个选项中，只有一项是符合题目要求的）

    1.下列哪个因素不是导致时钟干扰的主要原因？（）

    A.时钟频率

    B.时钟边沿

    C.信号完整性

    D.电源噪声

    2.在集成电路设计中，时钟域交叉（CDI）通常会导致哪种类型的干扰？（）

    A.偶数

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