人工智能芯片 计算机视觉训练用云侧深度学习芯片测试指标与测试方法及编制说明.pdf

ICS31.200

CCSL56

团体标准

T/CESAXXX-202X

人工智能芯片计算机视觉训练用云侧深度

学习芯片测试指标与测试方法

AIChips-ComputerVision-Testmetricsandtestmethodofdeeplearningchipsfor

cloudsidetraining

征求意见稿

在提交反馈意见时，请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上。

已授权的专利证明材料为专利证书复印件或扉页，已公开但尚未授权的专利申

请证明材料为专利公开通知书复印件或扉页，未公开的专利申请的证明材料为专利

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202X-XX-XX发布202X-XX-XX实施

中国电子工业标准化技术协会发布

T/CESAXXXX—202X

版权保护文件

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他形式或任何手段进行复制、再版或使用，包括电子版，影印件，或发布在互联网及内部网络等。使用

许可可于发布机构获取。

II

T/CESAXXXX—202X

目次

前  言IV

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4缩略语1

5测试说明1

5.1测试环境及流程1

5.2测试对象1

5.3测试内容2

6测试指标2

6.1基本技术规格2

6.2功能3

6.3性能3

6.4软件生态4

7测试方法5

7.1基本技术规格5

7.2功能5

7.3性能6

7.4软件生态7

附录A（规范性）算子参数配置9

A.1算子性能评测配置参数9

附录B（规范性）算子及模型列表12

B.1算子列表12

B.2长尾算子列表12

B.3模型列表13

III

T/CESAXXXX—202X

前  言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起

草。

本文件由上海商汤科技开发有限公司提出。

本文件由中国电子技术标准化研究院、中国电子工业标准化技术协会归口。

本文件起草单位：。

本文件主要起草人：。

IV

T/CESAXXXX—202X

人工智能芯片计算机视觉训练用云侧深度学习芯片测试指标与测

试方法

1