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CMOS图像传感器单粒子翻转检测系统研究

摘要

CMOS图像传感器由于其低功耗、低电压操作、高速成像、低成本、集成能力高等

优势，在医学、天文学、汽车、数字摄影、科学研究、影视传媒等领域受到了广泛的应

用。不同的厂家对器件性能测试的标准、条件和场景不尽相同，而且由于制造工艺和半

CMOS

导体材料变化等因素，图像传感器的实际性能参数与厂家提供的参考值有一定的

出入。在辐射等恶劣环境下，可能会发生单粒子翻转现象，改变存储单元的数据信息，

有可能导致计算结果错误或程序执行错误，继而产生更严重的后果。同时对于CMOS图

像传感器，采集的图像受到寄存器数据的影响，如果寄存器发生了翻转现象，改变了原

本的逻辑状态，就有可能会改变成像的结果。因此研究一套具有图像采集、寄存器检测、

参数计算等功能的单粒子翻转检测系统具有重要的意义。

本文首先分析了单粒子翻转现象产生的原理，研究了故障注入方法；并从硬件检测

和软件检测两方面研究了单粒子翻转检测的方法，硬件检测主要研究了双模冗余法和三

模冗余法，软件检测主要研究了信息冗余法和回读对比法；之后研究了EMVA1288标

准对图像传感器性能参数测试的基本理论，从不同曝光时间和固定曝光时间两方面对不

同的性能参数进行了分类，对各性能参数的含义，测试方法与流程进行了说明。

然后根据单粒子翻转检测系统原理进行了单粒子翻转检测系统的设计。单粒子翻转

CMV50000

检测系统硬件设计主要包括单粒子辐照子板、单粒子辐照通用母板、型图像

传感器等，单粒子翻转检测系统软件设计主要包括通用功能模块设计、图像采集功能模

块设计、参数计算功能模块设计和寄存器检测功能模块设计等。对设计完成后的单粒子

翻转检测系统进行了软件响应效率和系统使用效率上的提升，针对用户对使用细致度的

不同要求，实现了两种不同的版本，一种是交互性较好的版本，另一种是自动化程度较

高的版本。并在最后进行了整个系统的封装以确保单粒子翻转检测系统的稳定性和移植

性。

最后基于软件故障注入和回读对比方法完成了单粒子翻转检测系统性能的可靠性

测试，基于EMVA1288标准完成了对CMOS图像传感器的可行性测试。通过故障注入、

寄存器检测和数据对比等步骤验证了系统的单粒子翻转检测功能；对所有寄存器有效位

的不同位数进行了翻转，记录了影响图像的寄存器地址，翻转位数以及图像变化情况；

并基于EMVA1288标准对CMV50000型图像传感器进行了主要参数的计算。

哈尔滨工程大学专业学位硕士学位论文

CMOSEMVA1288

关键词：图像传感器；图像采集；单粒子翻转检测；参数计算；

标准

CMOS图像传感器单粒子翻转检测系统研究

Abstract

CMOSimagesensorhasbeenwidelyusedinmedicine,astronomy,automobile,digital

photography,scientificresearch,filmandtelevisionmediaandotherfieldsduetoitsadvantages

oflowpowerconsumption,lowvoltageoperation,highspeedimaging,lowcostandhigh

integrationability.Differentmanufacturershavedifferentstandards,conditionsandscenarios

fordeviceperformancetesting,andduetofactor