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3.2结型场效应管
3.3场效管应用原理
3.1MOS场效应管
第三章场效应管
场效应管是另一种具有正向受控作用的半导体器件。它比BJT体积小、工艺简单,器件特性便于控制,是目前制造大规模集成电路的主要有源器件。
场效应管输入电阻远大于三极管输入电阻。三极管Ri不高,在许多场合不能满足要求。
场效应管是单极型器件(三极管是双极型器件)。FET靠半导体中的多数载流子导电,又称单极型晶体管。三极管是两种载流子导电。
场效应管与三极管主要区别:后述。
概述
FET优点:输入电阻大(Ri107Ω~1012Ω)、噪音低、热稳定性好、抗辐射能力强、体积小、工艺简单,便于集成,因此应用广泛。
主要用于高输入阻抗放大器的输入级。
场效应管:压控电流源器件(ID=gmVGS)。
三极管:流控电流源器件(IC=IB)。
FET利用输入回路的电压(电场效应)来控制输出回路电流的器件,故此命名。
概述
3.1MOS场效应管
P沟道(P-EMOS)
N沟道(N-EMOS)
P沟道(P-DMOS)
N沟道(N-DMOS)
MOSFET
增强型(E)
耗尽型(D)
N-MOS管与P-MOS管工作原理相似,不同之处仅在于它们形成电流的载流子性质不同,因此,导致加在各极上的电压极性相反。
JFET
结型
N沟道
P沟道
N-JFET
P-JFET
分类:
金属氧化物场效应管(IGFET绝缘栅型)
N
+
N
+
P
+
P
+
P
U
S
G
D
3.1.1N沟道增强型MOS场效应管
N-EMOSFET结构示意图
源极
漏极
衬底极
SiO2
绝缘层
金属栅极
P型硅
衬底
S
G
U
D
电路符号
l
沟道长度
W
沟道宽度
MOS管外部工作条件:两个PN结反偏。N-EMOS管为:
VDS0(保证栅漏PN结反偏)。
U接电路最低电位或与S极相连(保证源衬PN结反偏)。
VGS0(形成导电沟道)。
由金属、氧化物和半导体制成。称为金属-氧化物-半导体场效应管(M-O-S)。
栅极有SiO2绝缘层,或简称I-G-FET场效应管。
3.1绝缘栅型场效应管(MOS管)
3.1.1N沟道增强型(EMOS)管
说明
①MOS管衬底一般与源极相连使用;
②栅极和衬底间形成电容。
一.工作原理
1、沟道形成原理。(1)设VDS=0,当VGS=0时,iD=0。图(a)
栅衬之间相当于以SiO2为介质的平板电容器。
(2)当VGS0时,VGS对沟道导电能力的控制作用。图(b)
若VGS0(正栅源电压)
耗尽层,如图(b)所示。
(3)开启电压VGS(th):使沟道刚刚形成的栅源电压。
VGS
反型层加厚
沟道电阻变小。
当VGS
耗尽层加宽
反型层
N型导电沟道,
如图(C)所示。
反型层
VGS越大,反型层中n越多,导电能力越强。
2、当VGSVGS(th)且一定时,VDS对沟道导电能力iD的影响。图(d)
VDS
VGD
沟道变窄
若VGD=VGS(th)
预夹断
VDS
(假设VGSVGS(th)且保持不变)
讲P104
VDS
夹断区加长
预夹断前:
d—s间呈电阻特性
预夹断后:
VDGVGS(th)
iD几乎只由VGS决定,与VDS无关
恒流特性
VDS→ID基本维持不变。
若忽略CLME效应,则近似认为l不变(即Ron不变)。
因此,预夹断后:
3、若考虑沟道长度调制效应(CLME)
则VDS→沟道长度L略→→沟道电阻Ron略。
因此,VDS→ID略。
由上述分析可描绘出ID随VDS变化的关系曲线:
ID
VDS
0
VGS–VGS(th)
VGS一定
曲线形状类似三极管输出特性。
MOSFET工作原理:
利用半导体表面的电场效应,通过栅源电压VGS的变化,改变感生电荷的多少,从而改变(感生)导电沟道的宽窄,控制漏极电流ID。
MOS管仅依靠一种载流子(多子)导电,故称单极型器件。
三极管中多子、少子同时参与导电,故称双极型器件(BJT)。
总图:N—EMOSFET工作原理
N-EMOS管
DMOS管
N-MOS管结构及符号
由于N-EMOS管栅极电流为零,故没有输入特性曲线。
共源组态特性曲线:
ID=f(VGS)
VDS=常数
转移特性:
ID=f(VDS)
VGS=常数
输出特性:
二、伏安特性
+
T
VDS
IG0
VGS
ID
+
-
-
转移特性与输出特性反映场效应管同一物理过程,它们之间可以相互转换。
(3-
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