半导体管故障在路检测.pptVIP

电子产品故障检修半导体管故障在路检测*第1页，共29页，星期日，2025年，2月5日一、故障检修常见方法1-1观察法打开电子产品机壳后观察：导线是否脱落？电阻是否烧焦？电容器电解液是否流出？行输出变压器是否打火等。*第2页，共29页，星期日，2025年，2月5日1-2电压测量法电压测量法：通过测量电源电压、集成电路各脚电压、晶体管各脚电压、电路中各关键点电压正常与否来判断故障所在的方法。是最简捷、有效、迅速的方法，大部分故障根据所测得的实际电压与正常值相比较，经过分析可以较快地判断故障部位。*第3页，共29页，星期日，2025年，2月5日东芝TA两片机音频功率放大电路*第4页，共29页，星期日，2025年，2月5日电压、电流测量法举例*第5页，共29页，星期日，2025年，2月5日电压测量法检修集成电路好坏*第6页，共29页，星期日，2025年，2月5日1-3电流检查法电流检查法：通过测量电路中的直流电流是否正常来判断故障所在的方法。若怀疑某电路电流过大，则使电流检查法。如开关型稳压电源输出的直流电流是否过大，各类输出级（行输出级、场输出级、音频输出级）电流是否过大。电流检查往往比电阻检查更能定量反映各电路的工作正常与否*第7页，共29页，星期日，2025年，2月5日1-4电阻检查法电阻检查法：测量电路中的元器件两端的直流电阻是否正常来判断故障所在的方法。电阻检查必须是在关机状态下进行的。对于保险丝烧断、机内冒烟等故障，在通电前一定要先进行电阻检查。*第8页，共29页，星期日，2025年，2月5日电阻测量法在路判别元器件是否损坏*第9页，共29页，星期日，2025年，2月5日电阻测量法在路判别集成电路是否损坏*第10页，共29页，星期日，2025年，2月5日二、二极管故障在路检测整流二极管蓝激光二极管锗二极管*第11页，共29页，星期日，2025年，2月5日2-1半导体器件故障现象主要故障现象：开路、短路、温度特性差、参数退化。开路与短路属于硬故障，硬故障比率高，也容易检测；温度特性差与参数退化属于软故障，软故障比率低，但不易检测。*第12页，共29页，星期日，2025年，2月5日2-2二极管非在路检测常见故障:断极开路、击穿短路使用：正向最大电流、反向耐压方法：测量正反向电阻。万用表选择R×1K档，分别测出正反向电阻。正常情况下，硅二极管的正向电阻一般为几百欧到几千欧，而锗二极管的正向电阻为100欧到1千欧，它们的反向电阻通常为几十千欧到几百千欧，则说明二极管正常；若正反向电阻都为0，则说明二极管短路损坏；若正反向电阻都为无穷大，则说明二极管开路损坏；问题：万用表电阻档越低，如R×100档、R×10档或R×1档，则向被二极管提供的电流越大，测出的电阻值也就越小。为什么？*第13页，共29页，星期日，2025年，2月5日2-3三极管在路检测测正向电阻以桥式整流电路为例，若检测D2正向电阻，则黑表笔搭D2正极，红表笔搭D2负极，如左图所示，此时D2导通，D1、D3及D4均截止，这表明D2正向电阻的测量不受D1、D3及D4影响，测量是非常准确的。*第14页，共29页，星期日，2025年，2月5日2-3三极管在路检测测反向电阻测反向电阻时，红表笔搭D2正极，黑表笔搭D2负极，如左图所示，此时不应该导通的D1却导通了，使D2的反向电阻不为无穷大，而是为D1正向电阻与负载R的串联阻值。同理，对D1、D3及D4的测量也是如此。结论:不要以为三极管的反向电阻在路测量不为无穷大，就认为二极管已损坏。*第15页，共29页，星期日，2025年，2月5日2-4开关二极管故障检测检测开关二极管的方法与检测普通二极管的方法相同。不同的是，这种管子的正向电阻较大。用R×1k电阻档测量，一般正向电阻值为5～10kΩ，反向电阻值为无穷大。*第16页，共29页，星期日，2025年，2月5日2-5双向触发二极管性能检测。将万用表置于R×1k档，测双向触发二极管的正、反向电阻值都应为无穷大。若交换表笔进行测量，万用表指针向右摆动，说明被测管有漏电性故障。对称性判断。将万用表置于相应的直流电压档，测试